研究課題
基盤研究(B)
本研究の目的は、論理回路に対して、システムの空き時間を利用した高品質なフィールドテスト手法を確立することにある。特に、劣化が原因となる故障にも高い故障検出能力を有するテスト手法を開発する。フィールドテストは、一回のテスト時間が短く、テストパターンを保存する記憶容量も少ないが、テスト機会はフィールドで複数回可能である。本研究では、テストパターン集合を分割して、複数回のテスト機会を通じて一つのテストを実施する「分割・巡回テスト手法」を開発する。
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IEEE Trans. on VLSI Systems
巻: Vol. 20 No. 11 ページ: 1951-1959
Proc. IEEE Int.Test Conference
巻: 15 ページ: 2
doi:10.1109/TEST.2012.6401581
Proc. IEEE Asian Test Symp
ページ: 272-277
doi:10.1109/ATS.2012.50
ページ: 173-178
doi:10.1109/ATS.2012.27
IPSJ Trans.on System LSI Design Methodology
巻: Vol.4 ページ: 117-130
doi:10.2197/ipsjtsldm.4.117
Int. Symp. on Communications and Information Technologies
ページ: 723-726
doi:10.1109/ISCIT.2010.5665084
IPSJ Trans. on System LSI Design Methodology
巻: Vol.3 ページ: 283-291
doi:10.2197/ipsjtsldm.3.283
IEEE Int. On-Line Testing Symp
ページ: 21-26
DOI:10.1109/IOLTS.2010.5560239
15thIEEE European Test Symp
ページ: 107-111
IEICE Trans. on Information and Systems
巻: Vol. E93-D, No. 1 ページ: 2-9
DOI:10.1587/transinf.E93.D.2
Proc. Asian Test Symp
ページ: 99-104
DOI:10.1109/ATS.2009.22
Int. Conf. on ComputerAided Design
ページ: 97-104
DOI:10.1145/1687399.1687420
IEEE 15th Pacific Rim Int. Symp. on Dependable Computing
ページ: 81-86
DOI:10.1109/PRDC.2009.21
the 2009 Int.Symp. on VLSI Design, Automation, and Test
ページ: 64-67
DOI:10.1109/VDAT.2009.5158096
http://aries30.cse.kyutech.ac.jp
