研究課題
基盤研究(B)
本研究の目的は、論理回路に対して、システムの空き時間を利用した高品質なフィールドテスト手法を確立することにある。特に、劣化が原因となる故障にも高い故障検出能力を有するテスト手法を開発する。フィールドテストは、一回のテスト時間が短く、テストパターンを保存する記憶容量も少ないが、テスト機会はフィールドで複数回可能である。本研究では、テストパターン集合を分割して、複数回のテスト機会を通じて一つのテストを実施する「分割・巡回テスト手法」を開発する。
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