研究課題
基盤研究(B)
医療用X線CT装置と同じ原理で、電子顕微鏡を使えば様々な物質の断層像をナノ(nm)の細かさで撮影することが出来る。しかし、一般に試料は水平に広がった支持膜の上に置かれるため、左右回りに60度程度にしか傾斜できず(理想90度)不完全な歪んだ断層像しか得られなかった。全く新たな演算方法を考案し、それによって断層像を求め直したところ、その歪が解消し、更に電子線照射量を2割程度までに削減することが出来た。
すべて 2012 2011 2010 2009
すべて 雑誌論文 (3件) (うち査読あり 2件) 学会発表 (10件) 産業財産権 (1件)
顕微鏡
巻: 第45巻2号 ページ: 109-113
BMC Bioinformatics
巻: Vol.11 ページ: 373-385
J. Electron Microsc
巻: Vol.58 ページ: 289-294