|
重元素少電子多価イオンに関する2電子性再結合過程の観測を、電気通信大学の電子ビームイオントラップTokyo-EBITを用いて行った。平成23年度までに、X線による測定と、Tokyo-EBITから引き出したイオンによる平衡電荷分布計測による測定を合わせることにより、2電子性再結合において放出されるX線の角度分布をリチウム様金多価イオン（Au76+、原子番号79）について測定し、角度分布に現れるブライト相互作用効果を明らかにした。平成24年度は、同様の測定をPr（原子番号59）およびHo（原子番号67）について行い、原子番号依存性を調べた。その結果、理論で予測されたように、原子番号が増加するに伴い、ブライト相互作用が顕著に効くようになり、原子番号の小さい領域で異方的な振る舞いを示す角度分布が、大きな領域では等方的な分布に近付く様子が実験的に示された。この結果は現在、当該分野で権威の高いPhysical Review A誌に投稿準備中である。
また、角度分布を生じる磁気量子数分布をより直接的に測定する手段として、硬X線の偏光度計の立ち上げを行った。2電子性再結合により放出されるX線の偏光度を測定することで、X線計測のみで磁気量子数分布を得ることが可能となった。
本研究の成果は国際的にも認められ、9月にハイデルベルグにおいて開催された「多価イオン物理国際会議」において、研究協力者の胡智民が招待講演を行った他、7月末から8月頭にかけて蘭州で開催された「プラズマ中原子分子過程に関する日中セミナー」において中村が招待講演を行った。
|
