| 研究分担者 |
藤原 敏 横浜市立大学, 生体防御医学研究所, 教授 (20173487)
角田 陽 東京工業高等専門学校, その他部局等, 准教授 (60224359)
吉田 真 首都大学東京, 理工学研究科, 助教 (60336518)
中楯 浩康 首都大学東京, システムデザイン研究科, 助教 (10514987)
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| 研究概要 |
びまん性軸索損傷は頭部に強制的な回転運動が加わり,その慣性力によるひずみやひずみ速度が原因であるといわれているが,神経損傷を引き起こすひずみやひずみ速度の閾値が解明されていない等,力学的入力と神経損傷の定量的な関連性は未だ不明瞭な部分が多い.本研究では,培養神経細胞に一軸引張ひずみを負荷可能な装置を製作し,一軸引張ひずみに対するPC12細胞の形態変化を経時的に観察した.ひずみの負荷直後における神経細胞損傷は,負荷されるひずみの大きさに依存することが示された.また,ひずみ負荷後に時間が経過すると共に神経細胞に二次的な損傷が生じ,その損傷度合いは,経過時間と,負荷されたひずみの大きさに依存することが示された.
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