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2010 年度 実績報告書

量子論に基づく実践的配線寿命予測シミュレータの開発

研究課題

研究課題/領域番号 21360158
研究機関東北大学

研究代表者

坪井 秀行  東北大学, 大学院・工学研究科, 准教授 (20375182)

研究分担者 宮本 明  東北大学, 未来科学技術共同研究センター, 教授 (50093076)
高羽 洋充  東北大学, 大学院・工学研究科, 准教授 (80302769)
遠藤 明  東北大学, 大学院・工学研究科, 准教授 (90344704)
畠山 望  東北大学, 大学院・工学研究科, 准教授 (50312666)
鈴木 愛  東北大学, 未来科学技術共同研究センター, 助教 (40463781)
キーワードエレクトロマイグレーション / 超高速化量子分子動力学法 / 電子wind force / 配線寿命予測 / 実物モデル化
研究概要

半導体配線材料のエレクトロマイグレーション(EM)現象を電子・原子レベルで扱うため申請者らが予備的に開発してきた電子wind forceの効果を考慮するアルゴリズムは,(1)超高速化量子分子動力学シミュレータを用いて配線材料の電子密度空間分布を算出,(2)電気伝導シミュレータに展開し電子流分布を計算,(3)得られた電子流分布に従って原子に作用するクーロン力を調節する,という流れになる.本年度は,前年度までに精密化・定量化を進めた電子wind force効果による原子移動アルゴリズムを用いて,下記2項目を検討した:
(1)半導体配線材料大規模におけるEM現象ダイナミクスの電子レベル解明:これまでの結果を受け,配線材料の大規模モデルにおけるEM現象ダイナミクスを超高速化量子分子動力学シミュレータで解明する.そのために,初年度に改良を進めた自動化超高速化量子分子動力学シミュレータの改良をさらに進め動作検証を深めるとともに,電界強度,温度による電子流分布変化を超高速化量子分子動力学シミュレータに組込むことに成功した.本シミュレータにより得られる原子拡散・空孔拡散のダイナミクスから,原子の移動経路・エネルギー変化が解析できるので,原子の移動確率をアレニウスの式によって算出することが可能となった.
(2)新規配線材料寿命予測シミュレータの開発:予備開発済みの実スケール配線EMシミュレータにおける原子移動確率に電子・原子レベルで得られる情報を採用することで,定量的な配線材料寿命予測を可能とする量子論に基づく新規シミュレータについて,プロトタイプの開発に成功した.また,配線材料の実スケールモデリングなどを可能とするソフトウェア類の開発も進めた.

  • 研究成果

    (9件)

すべて 2010 その他

すべて 雑誌論文 (2件) (うち査読あり 2件) 学会発表 (6件) 備考 (1件)

  • [雑誌論文] Development of Computational Method for Analysis of Carrier Transfer in Light-Emitting Polymers2010

    • 著者名/発表者名
      Itaru Yamashita, et al.
    • 雑誌名

      Japanese Journal of the Applied Physics

      巻: 49 ページ: 04DK13

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Modeling of Dye-Sensitized Solar Cells Based on TiO_2 Electrode Structure Model2010

    • 著者名/発表者名
      Mari Onodera, et al.
    • 雑誌名

      Japanese Journal of the Applied Physics

      巻: 49 ページ: 04DP10

    • 査読あり
  • [学会発表] 自動化超高速化量子分子動力学法の開発とシリコン表面のドライ・ウェットおよびラジカル酸化反応シミュレーション2010

    • 著者名/発表者名
      坪井秀行
    • 学会等名
      応用物理学会シリコンテクノロジー分科会第128回研究集会
    • 発表場所
      機械振興会館
    • 年月日
      2010-11-12
  • [学会発表] 自動化超高速化量子分子動力学法の開発とシリコン酸化膜形成の反応解析への応用2010

    • 著者名/発表者名
      坪井秀行
    • 学会等名
      シリコン材料・デバイス研究会(SDM)
    • 発表場所
      東北大学
    • 年月日
      2010-10-22
  • [学会発表] Development of a Multi-Scale Time Dependent Dielectric Breakdown Simulator Based on TBQC and KMC Method : Application to the Evaluation of a Gate Oxide Film for CMOS Technology2010

    • 著者名/発表者名
      Hideyuki Tsuboi
    • 学会等名
      2010 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM 2010)
    • 発表場所
      東京大学
    • 年月日
      2010-09-23
  • [学会発表] 量子化学およびKMC法によるシリカ膜中電子移動のマルチスケールシミュレーション2010

    • 著者名/発表者名
      坪井秀行
    • 学会等名
      第106回触媒討論会
    • 発表場所
      山梨大学
    • 年月日
      2010-09-18
  • [学会発表] マルチスケールシミュレーションによるゲート酸化膜の絶縁信頼性予測2010

    • 著者名/発表者名
      坪井秀行
    • 学会等名
      第71回応用物理学会学術講演会
    • 発表場所
      長崎大学
    • 年月日
      2010-09-15
  • [学会発表] Tight-Binding量子化学計算およびキネティックモンテカルロ法を用いたマルチスケール酸化膜絶縁信頼性予測シミュレータの開発2010

    • 著者名/発表者名
      坪井秀行
    • 学会等名
      日本コンピュータ化学会2010年春季年会
    • 発表場所
      東京工業大学
    • 年月日
      2010-05-21
  • [備考]

    • URL

      http://www.aki.che.tohoku.ac.jp/prev/2010gakkai-j.html

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公開日: 2012-07-19  

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