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2011 年度 研究成果報告書

変位計測に基づく健全度診断システムの構築と実建物の加振実験による検証

研究課題

  • PDF
研究課題/領域番号 21360271
研究種目

基盤研究(B)

配分区分補助金
応募区分一般
研究分野 建築構造・材料
研究機関早稲田大学

研究代表者

西谷 章  早稲田大学, 理工学術院, 教授 (70156074)

研究分担者 大泊 巌  早稲田大学, 名誉教授 (30063720)
仁田 佳宏  足利工業大学, 准教授 (10318834)
三浦 悟  鹿島建設技術研究所 (20374027)
高橋 元一  鹿島建設技術研究所 (80416700)
研究期間 (年度) 2009 – 2011
キーワード構造ヘルスモニタリング / 層間変形 / 層間変位計 / 健全度診断 / 診断アルゴリズム / 損傷個所 / 実建物加振実験
研究概要

本研究は,新たな概念による層間変位計測センサーの使用を前提とした、健全度診断システムの構築を目指すものである。開発したセンサー、構築した診断システムの有効性確認さらなる改良を目的として、実建物加振実験を実施し検証を行った。

  • 研究成果

    (12件)

すべて 2011 2010 2009

すべて 雑誌論文 (5件) (うち査読あり 5件) 学会発表 (6件) 産業財産権 (1件)

  • [雑誌論文] Development of lateral-displacement sensor for real-time detection of structural damage2011

    • 著者名/発表者名
      I. Matsuya, Y. Nitta(5番目), M. Takahashi(6番目), S. Miura(7番目), A. Nishitani(13番目), I. Ohdomari(14番目), 他8名
    • 雑誌名

      IEEJ Transactions on Electrical and Electronic Engineering

      巻: 6(3) ページ: 266-272

    • 査読あり
  • [雑誌論文] 光位置検出素子を利用した非接触型相対変位計測システム2010

    • 著者名/発表者名
      松谷巌, 高橋元一(6番目), 三浦悟(7番目), 仁田佳宏(11番目), 西谷章(14番目), 大泊巌(15番目), 他9名
    • 雑誌名

      日本建築学会技術報告集

      巻: 第16巻,第33号 ページ: 469-472

    • 査読あり
  • [雑誌論文] 起振機加振試験による非接触型センサを利用した実建物の層間変位計測2010

    • 著者名/発表者名
      畑田朋彦, 高橋元一(2番目), 仁田佳宏(6番目), 西谷章(7番目), 他3名
    • 雑誌名

      日本建築学会構造系論文集

      巻: 第75巻,第653号 ページ: 1257-1264

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Measuring relative-story displacement and local inclination angle using multiple position-sensitive detectors2010

    • 著者名/発表者名
      I. Matsuya, M. Takahashi(7番目), Y. Nitta(9番目), A. Nishitani(12番目), I. Ohdomari(13番目), 他8名
    • 雑誌名

      Sensors

      巻: 10 ページ: 9687-9697

    • 査読あり
  • [雑誌論文] An experimental study on relative displacement sensing using phototransistor array for building structures2010

    • 著者名/発表者名
      K. Kanekawa, M. Takahashi(5番目), S. Miura(6番目), Y. Nitta(10番目), A. Nishitani(13番目), I. Ohdomari(14番目), 他8名
    • 雑誌名

      IEEJ Transactions on Electrical and Electronic Engineering

      巻: 5(2) ページ: 251-255

    • 査読あり
  • [学会発表] Relative-story displacement sensor for measuring five-degree-of-freedom movement of building layers2011

    • 著者名/発表者名
      I. Matsuya, M. Takahashi, Y. Nitta, A. Nishitani, I. Ohdomari, 他8名
    • 学会等名
      Proceedings of SPIE Smart Structures/NDE 2011
    • 発表場所
      San Diego, USA
    • 年月日
      20110700
  • [学会発表] An optical lateral-displacement sensor for measuring the inter-story of a building2010

    • 著者名/発表者名
      I. Matsuya, Y. Nitta, A. Nishitani, I. Ohdomari, 他6名
    • 学会等名
      Proceedings of the Fifth World Conference on Structural Control and Monitoring(5WCSCM)
    • 発表場所
      Tokyo, Japan
    • 年月日
      20100700
  • [学会発表] An experimental study on relative displacement direct sensing in real-time using phototransistor array for building structures2010

    • 著者名/発表者名
      K. Kanekawa, Y. Nitta, A. Nishitani, I. Ohdomari, M. Takahashi, 他6名
    • 学会等名
      Proceedings of the Fifth World Conference on Structural Control and Monitoring(5WCSCM)
    • 発表場所
      Tokyo, Japan
    • 年月日
      20100700
  • [学会発表] Measurement of actual building motions on forced vibration test by noncontact-type relative story displacement sensors2010

    • 著者名/発表者名
      T. Hatada, M. Takahashi, Y. Nitta, A. Nishitani, 他4名
    • 学会等名
      Proceedings of the Fifth World Conference on Structural Control and Monitoring(5WCSCM)
    • 発表場所
      Tokyo, Japan
    • 年月日
      20100700
  • [学会発表] Development of noncontact-type relative story displacement monitoring system2009

    • 著者名/発表者名
      I. Matsuya, M. Takahashi, Y. Nitta, A. Nishitani, I. Ohdomari, 他10名
    • 学会等名
      Proceedings of the Fifth International Workshop on Advanced Smart Materials and Smart Structures Technology(ANCRiSST2009)
    • 発表場所
      Boston, USA
    • 年月日
      20090700
  • [学会発表] An experimental study on inter-story displacement measurement using phototransistor array2009

    • 著者名/発表者名
      K. Kanekawa, M. Takahashi, Y. Nitta, A. Nishitani, I. Ohdomari, 他9名
    • 学会等名
      Proceedings of the Fifth International Workshop on Advanced Smart Materials and Smart Structures Technology(ANCRiSST2009)
    • 発表場所
      Boston, USA
    • 年月日
      20090700
  • [産業財産権] 変位計測装置2010

    • 発明者名
      松谷巌, 他(大泊、西谷、仁田、三浦、高橋を含む)
    • 権利者名
      早稲田大学・鹿島建設
    • 産業財産権番号
      特許、特願2010-101740
    • 出願年月日
      2010-04-27

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公開日: 2013-07-31  

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