研究概要 |
新規層状炭化物ホモロガスシリーズの合成とそのX線結晶構造解析をおこない、一連の層状化合物(MC)_1T_<4m+ 3m> C_<3m+ 2n>(M=Zr, Y, Hf, T=Al, Si, Ge)(Al, Si)_<4l+ M>(O, C, N)_<3l+ m>を発見した。結晶構造はx線回折法と透過型電子顕微鏡法を併用して決定した。これら新規化合物の「導電率の比較的高いMC層」と「導電率の比較的低いT_<4m+ 3n> C_<3m+ 2n>層」の化学組成と厚みを制御することで、高性能n型熱電変換材料を設計する新たな指針を示した。
|