有機分子ナノ構造体が支持基板に対して示す接触電位差(LCPD)値を化学合成およびナノ構造制御により調整し、分子構造体が内包するナノスケールの固有情報として検出し活用するための手法について走査型プローブ顕微鏡(SPM)を主たる手段として検討した。その結果、ポルフィリン誘導体について、分子構造中央に配位する金属原子種や分子コンフォメーションの違いに応じてSPM像やLCPD値が変化する様子が観測された。これらは分子の電子状態やナノ構造を適切に制御することで電位情報を介した分子メモリや分子回路を構成することが可能であることを示唆する重要な知見と考える。
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