| 研究課題/領域番号 |
21540408
|
|---|
| 研究機関 | 京都大学 |
|---|
研究代表者 |
大澤 大輔 京都大学, 放射性同位元素総合センター, 助教 (90324681)
|
|---|
| 研究分担者 |
戸崎 充男 京都大学, 放射性同位元素総合センター, 准教授 (70207570)
|
|---|
| キーワード | 原子・分子物理 / 二次電子放出 / Fermi-Shuttle加速 / マイクロドジメトリ / トラック構造解析 |
|---|
| 研究概要 |
去年度に引き続きC^<6+>入射にて二次電子生成二重微分断面積の系統的測定を行った。平行平板静電型電子線分析器の改造による耐電圧向上、分析器-MCP間へのサプレッサ付きカーボンコリメータの設置による散乱二次電子の抑制、マスフロー流量を変えて二次電子計数のリニアリティ確認によるバックグラウンド再評価等により、MeV領域の重イオン入射ではFermi-Shuttle加速の影響は当初の見積もりより小さいことが分かった。さらに、CDW-EISによる理論計算値との比較では、1～10eVでは、1eVの前方(<40°)を除いて非常に良く一致した一方、20eV以上では、(特に)後方で不一致が観測された。また、微分断面積については、1～100eVの低エネルギー領域でZ^2スケーリング値より最大で約20%減少し、高Zイオン入射では高速イオン入射の電離、励起におけるボルン近似が過大になることを示唆するものとなった。続いて、得られた断面積牽電子輸送モンテカルロコート(KURBUC)に組み込み、水中へのフ"ラック"ヒーク領域のHe^<2+>、C^<6+>入射におけるトラック構造及ひ動径線量分布をシミュレーションした。動径線量分布とChatterleeモデルとの比較では、入射イオン軸近傍の高線量領域(Core)で不一致がみられ、モデルの見直しを要請するものとなった。以上についての研究成果を日本物理学会、光電子原子衝突国際会議等て発表した。
|
