| 研究概要 |
プラズマからの輝線スペクトル強度比を用いた分光診断は,絶対感度較正を必要とせず(波長相対感度のみ),衝突輻射モデルと組み合わせることで電子密度および電子温度を推定する有用な方法である.その手法として,従来グレーティング分光器による空間有限点のスペクトルを得る発光分光法か,あるいは干渉フィルタによる単一波長のイメージング計測が用いられてきた.本研究では両者の欠点を補う計測法として可変波長液晶リオフィルタによるイメージング分光法を提案し,その適用可能性を検討した.測定可能なヘリウム原子輝線スペクトルの選定をおこない,その感受性(複数輝線の強度比から電子密度・電子温度を求めるための衝突輻射モデルへの収束特性)を調べ,本システムによるイメージング分光の実現が可能であることを示した.さらに,接写光学系を導入することで視野を拡大し,明るく,自由度が高いスペクトラカメラの光学配置を実現した.
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