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四重極質量分析計、超音速分子線、エレクトロスプレーイオン源(ESI)を組み合わせたイオンビーム分光装置を製作した。ESIイオン源とイオン観測・検出部分は直交させる必要があると判明し、現在イオンビームラインの改造中である。また近赤外・可視半導体レーザー分光装置を製作した。400 nm-1550 nmで出力3-100 mWの様々な波長のシングルモード及びマルチモードの近赤外・可視レーザーを用いてスペクトルを観測し、性能テストを行った。電流による波数掃引範囲が短い(0. 5cm-1程度)事が分かったため、フーリエ変換分光器により波長測定が容易にできる半導体レーザー・フーリエ変換分光装置を開発した。
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