変調電位濃縮法による微量溶存化学種のXAFS状態分析

2011 年度 研究成果報告書

• 研究課題/領域番号: 21550082
• 研究種目: 基盤研究(C)
• 配分区分: 補助金
• 応募区分: 一般
• 研究分野: 分析化学
• 研究機関: 広島大学
• 研究代表者: 早川 慎二郎 広島大学, 大学院・工学研究院, 准教授 (80222222)
• 研究期間 (年度): 2009 – 2011
• キーワード: 電気化学 / 薄膜電極 / 銅めっき / 蛍光X線分析 / 腐食 / 臭化物イオン

研究概要

有機薄膜上に真空蒸着した金や白金の薄膜を作用電極に用いる電気化学セルを開発し、X線を背面照射する配置で電極表面の蛍光X線測定を実現した。ポテンシオ・ガルバノスタットをPCから外部制御し、作用電極の電位を変えながら蛍光X線測定を行うシステムを構築した。このシステムを用いて、作用電極上で銅めっき膜の形成およびストリップを制御し、臭化物イオン共存下で電極表面近傍への臭化物イオンの濃縮を蛍光X線検出した。

研究成果

• [雑誌論文] 単素子SDDを用いる蛍光XAFS測定系とカルシウム水溶液についてのK殻XAFS測定 (2012)
  • 著者名/発表者名: 早川慎二郎、島本達也、野崎恭平、生天目博文、廣川健、単素子
  • 雑誌名: X線分析の進歩 巻: 43 ページ: 465-470
  • 査読あり
• [雑誌論文] 蛍光X線検出用電気化学セルの開発と電極反応のその場蛍光X線分析 (2011)
  • 著者名/発表者名: 早川慎二郎、田畑春奈、島本達也、森聡美、廣川健
  • 雑誌名: X線分析の進歩 巻: 42 ページ: 341-346
  • 査読あり
• [学会発表] HiSORにおける液体試料のXAFS測定装置と溶存カルシウムイオンの状態分析への応用 (2011)
  • 著者名/発表者名: 島本達也・早川慎二郎・生天目博文・廣川健
  • 学会等名: 第47回X線分析討論会
  • 発表場所: 博多
  • 年月日: 2011-10-28
• [学会発表] 溶存CaイオンのCa K殻XANESスペクトルによる局所構造解析 (2010)
  • 著者名/発表者名: 島本達也・早川慎二郎・生天目博文・廣川健
  • 学会等名: 第46回X線分析討論会
  • 発表場所: 広島
  • 年月日: 2010-10-22
• [学会発表] 蛍光X線検出用電気化学セルの開発と電極表面のその場蛍光X線分析 (2010)
  • 著者名/発表者名: 田畑春奈・森聡美・島本達也・早川慎二郎・廣川健
  • 学会等名: 第46回X線分析討論会
  • 発表場所: 広島
  • 年月日: 2010-10-22
• [学会発表] 軟X線XAFS測定用透過型液体セルの開発とCaイオンの溶存状態に関する検討 (2010)
  • 著者名/発表者名: 島本達也・早川慎二郎・生天目博文・廣川健
  • 学会等名: 第71回分析化学討論会
  • 発表場所: 松江
  • 年月日: 2010-05-15
• [図書] 放射光が解き明かす驚異のナノ世界 (2011)
  • 著者名/発表者名: 早川慎二郎
  • 総ページ数: 232-234
  • 出版者: 講談社ブルーバックス
• [備考]
  • URL: http://home.hiroshima-u.ac.jp/hayakawa/index-j.html