研究課題
基盤研究(C)
放射光を光源とする放射光CTの技術を、電子部品が高い密度で実装された電子基板の信頼性評価に初めて適用しました。微細な接合部において繰返し加熱によって発生するき裂の発生から破断に至るまでのすべての過程を、電子基板を破壊することなく、継続的にモニタリングして、その寿命を推定する技術を開発できました。この技術は、電子機器の信頼性の向上と新しい機器の開発に貢献するものです。
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すべて 雑誌論文 (2件) (うち査読あり 2件) 学会発表 (10件)
Trans. ASME J. Electronic Packaging
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日本機械学会論文集
巻: Vol.75, No.755 ページ: 799-806