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研究成果発表報告書

X線透視画像を用いた電子パッケージ内部ひずみの非破壊計測技術の開発

研究課題

研究課題/領域番号 21560109
研究種目

基盤研究(C)

配分区分補助金
応募区分一般
研究分野 機械材料・材料力学
研究機関福岡県工業技術センター

研究代表者

小金丸 正明  福岡県工業技術センター, 機械電子研究所, 専門研究員 (20416506)

研究分担者 内野 正和  福岡県工業技術センター, 機械電子研究所, 専門研究員 (30416507)
糸平 圭一  福岡県工業技術センター, 機械電子研究所, 主任技師 (90463497)
連携研究者 池田 徹  京都大学, 工学研究科, 准教授 (40243894)
宮崎 則幸  京都大学, 工学研究科, 教授 (10166150)
浅野 種正  九州大学, システム情報科学研究科, 教授 (50126306)
研究期間 (年度) 2009 – 2011
  • 研究成果

    (1件)

すべて 2014

すべて 雑誌論文 (1件)

  • [雑誌論文] Examination of Residual Stress Measurement in Electronic Packages Using Phase-Shifted Sampling Moiré Method and X-Ray Images2014

    • 著者名/発表者名
      Masaaki Koganemaru, Masakazu Uchino, Akihiro Ikeda, and Tanemasa Asano
    • 雑誌名

      Electronics System-Integration Technology Conference (ESTC), 2014

      ページ: 1-5

    • DOI

      10.1109/ESTC.2014.6962827

URL: 

公開日: 2016-04-26   更新日: 2016-09-09  

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