ＣＶＳＬ・高速ゲート・ニューロン構造組み込みＳＥＴ耐性強化宇宙用ＬＳＩ回路

2013 年度 研究成果報告書

• 研究課題/領域番号: 21560375
• 研究種目: 基盤研究(C)
• 配分区分: 補助金
• 応募区分: 一般
• 研究分野: 電子デバイス・電子機器
• 研究機関: 静岡理工科大学
• 研究代表者: 波多野 裕 静岡理工科大学, 理工学部, 教授 (80238013)
• 研究期間 (年度): 2009-04-01 – 2014-03-31
• キーワード: 電子デバイス・機器 / デバイス設計、シミュレーション / 放射線、粒子線、宇宙線

研究概要

宇宙空間の荷電粒子によるシングル・イベント効果に起因する回路誤動作に対する耐性を強化した耐放射線性システムＬＳＩを設計するための基盤技術を、カスケード電圧スイッチ論理（ＣＶＳＬ）、高速ゲート、ニューロン・デバイスの導入により検討した。ＳＥＴ効果に対するシミュレーション技術により、スタティック形ＣＶＳＬ回路とクロック形ＣＶＳＬ（Ｃ２ＶＳＬ）回路を従来の複合ゲートＣＭＯＳ回路と比較して、前者は２桁以上の、後者は１桁以上のＳＥＴ耐性向上を明らかにした。また、Ｃ２ＶＳＬ回路とＣＶＳＬ回路により、全加算器と半加算器を設計試作して、試作チップの実測により、それぞれの回路の機能動作の確認に成功した。

研究成果

• [雑誌論文] SET immune spaceborne CVSL and C^2VSL circuits (2013)
  • 著者名/発表者名: H. Hatano
  • 雑誌名: Journal of Electrical and Control Engineering 巻: vol. 3, no. 5 ページ: 43-48
• [雑誌論文] A CMOS SRAM test cell design using selectively metal-covered transistors for a laser irradiation failure analysis (2012)
  • 著者名/発表者名: H. Hatano
  • 雑誌名: IEICE Trans. Electronics 巻: Vol. E95-C, no.11 ページ: 1827–1829
• [雑誌論文] A proposition on test circuit structures using selectively metal-covered transistors for a laser irradiation failure analysis (2012)
  • 著者名/発表者名: H. Hatano
  • 雑誌名: Proceedings of the IEEE International Conference on Microelectronics Test Structures ページ: 77-81
• [雑誌論文] Novel test circuit structures using selectively metal-covered transistors for a laser irradiation upset analysis (2011)
  • 著者名/発表者名: H. Hatano
  • 雑誌名: Proceedings of the 12th European Conference on Radiation Effects on Components and Systems, Sevilla ページ: 458-462
• [雑誌論文] A fundamental analysis of single event effects on clocked CVSL (C^2VSL) circuits with gated feedback (2011)
  • 著者名/発表者名: H. Hatano
  • 雑誌名: IEICE Trans. Electronics 巻: vol. E94-C, no. 6 ページ: 1131-1134
• [雑誌論文] Single event effect analysis on C^2VSL circuit with gated feedback (2010)
  • 著者名/発表者名: H. Hatano
  • 雑誌名: Proceedings of the 11th European Conference on Radiation Effects on Components and Systems, Langenfeld 巻: PF-1 ページ: 1-4
• [雑誌論文] A single event analysis on static CVSL exclusive-OR circuits (2010)
  • 著者名/発表者名: H. Hatano
  • 雑誌名: IEICE Trans. Electronics 巻: Vol. E93-C, no. 9 ページ: 1471-1473
• [雑誌論文] Single event effects on CVSL and CMOS exclusive-OR (EX-OR) circuits (2009)
  • 著者名/発表者名: H. Hatano
  • 雑誌名: Proceedings of the 10th European Conference on Radiation Effects on Components and Systems, Bruges ページ: 131-135
• [雑誌論文] Single event effects on static and clocked cascade voltage switch logic circuits (2009)
  • 著者名/発表者名: H. Hatano
  • 雑誌名: IEEE Trans. Nuclear Science 巻: vol.56, No.4 ページ: 1987-1991
• [学会発表] A simulation-based re-examination of single event transient pulse propagation failures in NOR/NAND devices (2013)
  • 著者名/発表者名: H. Hatano
  • 学会等名: 24th European Symposium on Reliability of Electron Devices
  • 発表場所: Failure Physics and Analysis
  • 年月日: 20131000
• [学会発表] A proposition on test circuit structures using selectively metal-covered transistors for a laser irradiation failure analysis (2012)
  • 著者名/発表者名: H. Hatano
  • 学会等名: Proceedings of the IEEE International Conference on Microelectronics Test Structures, pp.77–81
  • 年月日: 20120000
• [学会発表] Novel test circuit structures using selectively metal-covered transistors for a laser irradiation upset analysis (2011)
  • 著者名/発表者名: H. Hatano
  • 学会等名: Proceedings of the 12th European Conference on Radiation Effects on Components and Systems, pp. 458-462
  • 発表場所: Sevilla
  • 年月日: 20110000
• [学会発表] シングル・イベント耐性強化宇宙用CVSL及びC^2VSL回路 (2011)
  • 著者名/発表者名: 波多野裕
  • 学会等名: 電子情報通信学会再生可能集積システム時限研究会
  • 発表場所: 信学技報RIS11-8, pp.1-6
  • 年月日: 20110000
• [学会発表] Single event effect analysis on C^2VSL circuit with gated feedback (2010)
  • 著者名/発表者名: H. Hatano
  • 学会等名: Proceedings of the 11th European Conference on Radiation Effects on Components and Systems, PF-1, pp.1-4
  • 発表場所: Langenfeld
  • 年月日: 20100000
• [学会発表] Single event effects on CVSL and CMOS exclusive-OR (EX-OR) circuits (2009)
  • 著者名/発表者名: H. Hatano
  • 学会等名: Proceedings of the 10th European Conference on Radiation Effects on Components and Systems, pp. 131-135
  • 発表場所: Bruges
  • 年月日: 20090000