研究課題
基盤研究(C)
表面形状を計測する格子投影法は、液晶プロジェクタから明暗の縞である正弦波格子を物体表面に投影し、格子ゆがみをデジタルカメラで撮影し画像から格子位相を求める原理であり、短時間で安価にコンパクトに簡便に表面形状を高精度に計測する光学的手法である。宇宙用膜材として代表的な金属メッシュ、高分子膜、金属蒸着高分子膜などはこれらの計測手法に不向きと考えられていたが、提案した手法でしわを含む面形状計測できることを示した。また、大型宇宙構造物の軌道上表面形状計測を目指して、座標計測値を基準面の内挿法で求めていたものを外挿法に拡張することができ、リアルタイムで計測した。
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