X線CTの画像雑音(被曝)を低減する画像再構成法

2011 年度 研究成果報告書

• 研究課題/領域番号: 21591591
• 研究種目: 基盤研究(C)
• 配分区分: 補助金
• 応募区分: 一般
• 研究分野: 放射線科学
• 研究機関: 東北大学
• 研究代表者: 森 一生 東北大学, 大学院・医学系研究科, 教授 (90375171)
• 研究分担者: 町田 好男 東北大学, 大学院・医学系研究科, 教授 (30507083) ; 石橋 忠司 東北大学, 大学院・医学系研究科, 教授 (40151401)
• 研究期間 (年度): 2009 – 2011
• キーワード: 医用画像工学

研究概要

通常のCTの画像再構成においては、視野が即ち画素寸法が十分小さくなければ雑音のエリアスの問題が生じる。すなわち、画素によるナイキスト周波数を超える投影データの雑音成分はナイキスト周波数内に折り返す。帯域制限の処理を導入することにより、このエリアス雑音を画像鮮鋭度の代償無しに解消できる。我々は、この方法により顕著な画質改善あるいは照射線量の低減が得られ、特に再構成関数が高周波強調タイプのときに顕著であることを確認した。

研究成果

• [雑誌論文] CTの投影データの加工によるシミュレーションをユーザレベルで行う方法 (2011)
  • 著者名/発表者名: 佐藤和宏, 坂本博, 後藤光範, 小山内実, 町田好男, 梁川功, 森一生
  • 雑誌名: 東北大学医学部保健学科紀要 巻: vol.20, No.2 ページ: 91-102
  • 査読あり
• [雑誌論文] CT画像の雑音測定における低周波数領域での精度向上 (2011)
  • 著者名/発表者名: 後藤光範、佐藤和宏、水口早苗、三浦巧磨、小山内実、町田好男、森一生
  • 雑誌名: 東北大学医学部保健学科紀要 巻: vol.20, No.1 ページ: 55-61
  • 査読あり
• [雑誌論文] MDCTのSSP測定-傾斜ワイヤ法の問題点と直交ワイヤ法による改善- (2010)
  • 著者名/発表者名: 三浦巧麿、水口早苗、加藤壮敏、後藤光範、千葉幸、木村智圭、佐藤和宏、小山内実、町田好男、森一生
  • 雑誌名: 東北大学医学部保健学科紀要 巻: vol.19, No.2 ページ: 95-106
  • 査読あり
• [雑誌論文] CT画像に対する非線形画像フィルタの効果検証 (2010)
  • 著者名/発表者名: 森一生
  • 雑誌名: 東北医学会誌 巻: 122 ページ: 74-77
• [学会発表] 観察者モデルと観察者能力の整合性のCT画像を用いた検証 (2012)
  • 著者名/発表者名: 佐藤和宏、下沢恵太、宮本由希、後藤光範、小山内実、町田好男、森一生
  • 学会等名: 第68回日本放射線技術学会総会学術大会
  • 発表場所: 横浜
  • 年月日: 2012-04-12
• [学会発表] CTのMTF測定において、高雑音非拡大再構成条件に耐えるPSF法の開発評価 (2012)
  • 著者名/発表者名: 後藤光範、佐藤翔耶、澤谷勇太、佐藤和宏、小山内実、町田好男、森一生
  • 学会等名: 第68回日本放射線技術学会総会学術大会
  • 発表場所: 横浜
  • 年月日: 2012-04-12
• [学会発表] MDCTの検出系雑音(電子雑音)が画像雑音に与える影響、その測定法 (2011)
  • 著者名/発表者名: 後藤光範、庄田佳織、高橋伊津美、丹野祐希、佐藤和宏、小山内実、森一生
  • 学会等名: 第67回日本放射線技術学会総会学術大会(web開催)
  • 年月日: 20110509-20
• [学会発表] 仮想スリット法によるNPS測定において窓関数処理を行ったときの効果について (2011)
  • 著者名/発表者名: 後藤光範、佐藤和宏、山田文夫、加賀勇治、小山内実、町田好男、森一生
  • 学会等名: 第39回日本放射線技術学会秋季学術大会
  • 発表場所: 神戸
  • 年月日: 2011-10-29
• [学会発表] CTのスキャナ系と画像再構成系の周波数応答を区別して調べる方法 (2010)
  • 著者名/発表者名: 佐藤和宏、後藤光範、小山内実、町田好男、梁川功、森一生
  • 学会等名: 第66回日本放射線技術学会総会学術大会
  • 発表場所: 横浜
  • 年月日: 2010-04-09
• [学会発表] (2010)
  • 著者名/発表者名: 後藤光範、佐藤和宏、小山内実、町田好男、山田文夫、加賀勇治、森一生
  • 学会等名: 第66回日本放射線技術学会総会学術大会
  • 発表場所: 横浜
  • 年月日: 2010-04-09
• [学会発表] T画像のNPS計測法、特に低周波域の誤差について (2010)
  • 著者名/発表者名: 野口裕介、増田智之、根本まなみ、後藤光範、小山内実、町田好男、森一生
  • 学会等名: 第66回日本放射線技術学会総会学術大会
  • 発表場所: 横浜
  • 年月日: 2010-04-09
• [学会発表] LSF法によるCTのMTF計測の問題と改善法 (2010)
  • 著者名/発表者名: 根本まなみ、増田智之、野口裕介、佐藤和宏、三浦巧麿、小山内実、森一生
  • 学会等名: 第66回日本放射線技術学会総会学術大会
  • 発表場所: 横浜
  • 年月日: 2010-04-09
• [学会発表] CT装置における投影データ加工システムの構築 (2009)
  • 著者名/発表者名: 佐藤和宏、坂本博、小山内実、町田好男、梁川功、森一生
  • 学会等名: 37回日本放射線技術学会秋季学術大会
  • 発表場所: 岡山
  • 年月日: 2009-10-22
• [学会発表] (2009)
  • 著者名/発表者名: 後藤光範、佐藤和宏、小山内実、町田好男、梁川功、山田文夫、加賀勇治、森一生
  • 学会等名: 第37回日本放射線技術学会秋季学術大会
  • 発表場所: 岡山
  • 年月日: 2009-10-22
• [図書] 医用画像工学ハンドブック (2012)
  • 著者名/発表者名: 森一生, 他
  • 出版者: 日本医用画像工学会(in press)
• [図書] CTとMRI-その原理と装置技術- (2010)
  • 著者名/発表者名: 森一生, 他
  • 総ページ数: 1-109
  • 出版者: コロナ社