研究課題
基盤研究(C)
従来から存在する角膜形状測定装置と波面センサーに加えて、光干渉断層計(OCT)による角膜形状解析のシステムを開発し、正常、円錐角膜、角膜移植後、LASIK後における光学的特性を包括的に検討した。その結果、各対象の高次収差の特徴を把握すると共に、OCTによる角膜形状解析システムの開発に成功し、本法は従来の角膜形状解析との再現性が良好で、高度の円錐角膜ではより精度が高いことが示された。
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