三次元集積化システムオンチップのテスト手法に関する研究

2011 年度 研究成果報告書

• 研究課題/領域番号: 21700059
• 研究種目: 若手研究(B)
• 配分区分: 補助金
• 研究分野: 計算機システム・ネットワーク
• 研究機関: 奈良先端科学技術大学院大学
• 研究代表者: 米田 友和 奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 助教 (20359871)
• 研究期間 (年度): 2009 – 2011
• キーワード: テスト容易化設計 / 高品質遅延テスト / システムオンチップ / 3次元集積化

研究概要

三次元集積化システムオンチップに対して高品質・低コストなテストを実現するためのテスト生成技術・テスト容易化設計技術に関する研究を行った。テスト実行時の温度とテストデータ量の多さに着目し、テスト時の温度ばらつきによる遅延テスト品質の低下を抑えるテスト生成手法、および少ないテストデータ量で高品質な遅延テストを実現可能なテストコスト最適化手法を確立した。

研究成果

• [学会発表] Faster-Than-At-Speed Test for Increased Test Quality and In-Field Reliability (2011)
  • 著者名/発表者名: Tomokazu Yoneda, Keigo Hori, Michiko Inoue and Hideo Fujiwara
  • 学会等名: IEEE International Test Conference(ITC' 11)
  • 発表場所: アメリカアナハイム
  • 年月日: 2011-09-20
• [学会発表] Temperature-variation-aware test pattern optimization (2011)
  • 著者名/発表者名: Tomokazu Yonedaノルウェートロンハイム., Makoto Nakao, Michiko Inoue, Yasuo Sato and Hideo Fujiwara
  • 学会等名: IEEE European Test Symposium(ETS' 11)
  • 発表場所: ノルウェートロンハイム
  • 年月日: 2011-05-25
• [学会発表] A Test Pattern Optimization to Reduce Spatial and Temporal Temperature Variations (2011)
  • 著者名/発表者名: Tomokazu Yoneda, Makoto Nakao, Michiko Inoue, Yasuo Sato and Hideo Fujiwara
  • 学会等名: IEEE International Workshop on Reliability Aware System Design and Test(RASDAT' 11)
  • 発表場所: インドチェンナイ
  • 年月日: 2011-01-06
• [学会発表] RedSOCs-3D : Thermal-safe Test Scheduling for 3D-Stacked SoC (2010)
  • 著者名/発表者名: Fawnizu Azmadi Hussin, Thomas Edison Chua Yu, Tomokazu Yoneda and Hideo Fujiwara
  • 学会等名: IEEE Asia Pacific Conference on Circuits and Systems(APCCAS2010)
  • 発表場所: マレーシアクアラルンプール
  • 年月日: 2010-12-07
• [学会発表] Seed ordering and selection for high quality delay test (2010)
  • 著者名/発表者名: Tomokazu Yoneda, Michiko Inoue, Akira Taketani and Hideo Fujiwara
  • 学会等名: IEEE 19th Asian Test Symposium(ATS2010)
  • 発表場所: 中国上海
  • 年月日: 2010-12-04
• [学会発表] Optimizing Delay Test Quality with a Limited Size of Test Set (2010)
  • 著者名/発表者名: Michiko Inoue, Akira Taketani, Tomokazu Yoneda, Hiroshi Iwata and Hideo Fujiwara
  • 学会等名: IEEE European Test Symposium(ETS' 10)
  • 発表場所: チェコプラハ
  • 年月日: 2010-05-27
• [学会発表] Thermal-uniformity aware x-filling to reduce temperature-induced delay variation for accurate at-speed testing (2010)
  • 著者名/発表者名: Tomokazu Yoneda, Michiko Inoue, Yasuo Sato and Hideo Fujiwara
  • 学会等名: 28th IEEE VLSI Test Symposium(VTS' 10)
  • 発表場所: アメリカサンタクルーズ
  • 年月日: 2010-04-20
• [学会発表] Optimizing Delay Test Quality with a Limited Size of Test Set (2010)
  • 著者名/発表者名: Michiko Inoue, Akira Taketani, Tomokazu Yoneda, Hiroshi Iwata and Hideo Fujiwara
  • 学会等名: IEEE International Workshop on Reliability Aware System Design and Test(RASDAT' 10)
  • 発表場所: インドバンガロール
  • 年月日: 2010-01-08