本研究の目的は、Focused Ion Beam(FIB)を利用して、ナノ粉末試料からナノサイズ結晶1粒子の選択と測定ピンへの取り付けを可能にする「ナノサイズ結晶マニピュレーション技術」を確立し、ナノサイズ結晶1粒の単結晶X線回折測定を容易にすることであった。 本研究では、250nmφのBaTiO_3ナノサイズ結晶をFIBを利用してハンドリングを行い、SPring-8の高輝度放射光X線を使った回折測定にも成功した。また、データ解析により測定したナノサイズ結晶が2つのドメイン構造からなることを示唆する結果を得た。
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