2010 年度研究成果報告書

走査トンネル顕微鏡による半導体中のナノスケール核スピン偏極と検出

研究課題

研究課題/領域番号	21740219
研究種目	若手研究(B)
配分区分	補助金
研究分野	物性Ⅰ
研究機関	東北大学
研究代表者	橋本克之東北大学, 大学院・理学研究科, 助教 (30451511)
研究期間 (年度)	2009 – 2010
キーワード	走査プローブ顕微鏡 / 半導体物性 / 量子閉じ込め
研究概要	極低温100mK、強磁場8Tで動作する走査ゲート顕微鏡を用いて、4μm幅のホールバー内で生じた核スピン偏極の分布を測定する手法を開発した。これは、ナノスケールでの核スピン偏極の分布の測定、さらにはナノスケールでの核スピン偏極の実現につながる大きな成果である。