4プローブ装置による有機導体の３次元電気抵抗マッピングと解析

2010 年度 研究成果報告書

• 研究課題/領域番号: 21760024
• 研究種目: 若手研究(B)
• 配分区分: 補助金
• 研究分野: 薄膜・表面界面物性
• 研究機関: 東京大学
• 研究代表者: 吉本 真也 東京大学, 物性研究所, 助教 (90507831)
• 研究期間 (年度): 2009 – 2010
• キーワード: 表面・界面物性 / 有機薄膜 / 有機半導体 / 電気伝導 / 探針

研究概要

本研究では有機半導体のトランジスタ特性(FET特性)を測定する新たな手法として、独立駆動型４探針装置を用いた測定手法を新たに開発し、実際に有機半導体薄膜のFET特性を測定することに成功した。独立駆動型4探針装置は試料の任意の場所の局所的な特性を非破壊測定可能であり、この手法を用いて多結晶ペンタセン薄膜の単一グレインの移動度を直製測定することが可能となった。

研究成果

• [雑誌論文] Independently driven four-probe method for local electrical characteristics in organic thin-film transistors under controlled channel potential (2011)
  • 著者名/発表者名: S. Yoshimoto, T. Tsutsui, K. Mukai, and J. Yoshinobu
  • 雑誌名: Review of Scientific Instruments 巻: 82 ページ: 093902(6)
  • 査読あり
• [学会発表] Independently driven four-probe measurement in pentacene organic thin-film transistors under controlled channel potential (2011)
  • 著者名/発表者名: S. Yoshimoto, T. Tsutsui, K. Mukai, and J. Yoshinobu
  • 学会等名: The 6th International Symposium on Surface Science and Nanotechnology (ISSS-6)
  • 発表場所: 東京都江戸川区船堀
  • 年月日: 2011-12-12
• [学会発表] 独立駆動型4探針装置によるペンタセン薄膜のトランジスタ特性測定 (2011)
  • 著者名/発表者名: 吉本真也, 亀島一輝, 向井孝三, 吉信淳
  • 学会等名: 日本物理学会第66回年次大会
  • 発表場所: 新潟大学(震災による中止のため、大会用資料公開サイトで平成23年5月6日～8月31日の期間資料公開)
  • 年月日: 2011-03-28