研究課題
若手研究(B)
原子輸送による微小欠陥発生現象をその場観察により定量的に評価するための方法について検討した。その場観察においては、微小欠陥の発生箇所の予測が最も重要である。本研究では、微量元素が添加された試験片を用いて典型的な表面欠陥であるウィスカ発生試験を実施した。微量添加された元素は、表面欠陥の発生を抑制する場合があるため、微量元素のモニタリングによる欠陥発生予知は難しい。一方、腐食と通電の複合試験においては、局部的に腐食した領域の周辺から比較的急速なウィスカの発生を確認することができた。これは、腐食生成物により電流の流れが乱されることで局所的に原子輸送の駆動力である応力勾配が形成されたことによるものであると考えられる。得られた知見をもとに、原子輸送による欠陥生成をその場観察するための装置について提案した。
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IEEE Transactions on Electronics Packaging & Manufacturing Vol.33, Issue 3
ページ: 177-182
Micromaterials and Nanomaterials No.9
ページ: 49-53