2010 年度研究成果報告書

界面スピン顕微分析技術の開発と界面強磁性の直接解析

研究課題

研究課題/領域番号	21760243
研究種目	若手研究(B)
配分区分	補助金
研究分野	電子・電気材料工学
研究機関	独立行政法人産業技術総合研究所
研究代表者	甲野藤真独立行政法人産業技術総合研究所, エレクトロニクス研究部門, 研究員 (80425735)
研究期間 (年度)	2009 – 2010
キーワード	電子・電気材料 / スピンエレクトロニクス / 表面・界面物性 / 電子顕微鏡
研究概要	積層薄膜の界面で発現するスピン機能を活用した不揮発メモリ・ロジックデバイス等の開発が精力的に進められている。界面スピン機能は界面内の局所スピンの方向に支配されるため、これら新型デバイスの開発研究において、界面スピンの直接評価を可能とする実空間スピン計測技術が不可欠となる。本研究では、界面の局所スピン分布をナノスケールで定量分析できる高分解能スピン計測技術を開発した。