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2023 年度 研究成果報告書

低温成長による点欠陥密度の制御に基づくBi系Ⅲ-Ⅴ族半導体の発現機能の最大活用

研究課題

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研究課題/領域番号 21H01829
研究種目

基盤研究(B)

配分区分補助金
応募区分一般
審査区分 小区分30010:結晶工学関連
研究機関広島大学

研究代表者

富永 依里子  広島大学, 先進理工系科学研究科(先), 准教授 (40634936)

研究分担者 上殿 明良  筑波大学, 数理物質系, 教授 (20213374)
石川 史太郎  北海道大学, 量子集積エレクトロニクス研究センター, 教授 (60456994)
研究期間 (年度) 2021-04-01 – 2024-03-31
キーワードBi系III-V族半導体半金属混晶 / 分子線エピタキシー法 / 低温成長 / 結晶欠陥 / 陽電子消滅法
研究成果の概要

本研究期間において、希釈Bi系III-V族半導体のMBE法を用いた低温成長条件最適化を進め、その成長モデルを検討し、低温成長であっても、単結晶エピタキシャル薄膜が得られる成長条件が存在することを明らかにした。多様な結晶性評価手法により、アンチサイト型・空孔型両点欠陥の当該半導体結晶内における存在が示唆された。これらの結果は、光通信帯光源が利用可能なテラヘルツ波発生検出用光伝導アンテナの開発につながるものである。他方、動作特性が温度に依存しない光通信用新規半導体レーザーの開発に向け、InAsBi量子ドットの作製方法の確立を進め、新たな積層InAsBi量子ドットの作製方法を見出すことができた。

自由記述の分野

結晶工学、応用物性、電子・電気材料工学

研究成果の学術的意義や社会的意義

2030年に実用開始が目標に設定されている第6世代移動通信システム(6G)においては、従来よりも低消費電力や低コストを実現しながら、光通信全体の更なる大容量化やサブテラヘルツ帯以上の高周波帯域に対応した様々なデバイスが求められる。本研究が対象としているBi系III-V族半導体はこうした光通信・無線通信で求められる光学・テラヘルツ両デバイスに応用できる可能性を秘めており、本研究成果はデバイス開発に向けた結晶を得る指針を見出したものと位置付けることができる。

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公開日: 2025-01-30  

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