研究課題
これまでに、リモートH2プラズマ(H2-RP)支援により熱酸化SiO2上にFeナノドットを高密度形成後、基板温度400℃でSiH4照射を行うことでβ-FeSi2ナノドットが形成でき、さらには、SiH4照射量を増加した場合、ドット表面にSi層が選択成長することを明らかにしてきた。本年度は、β-FeSi2コア/Siシェル構造のナノドット形成を意図し、薄層化したSOI構造およびSiO2上に予め形成した高密度Si量子ドットに、Fe超薄膜の電子線蒸着とSiH4照射を行った。Si薄膜上にFe蒸着した後、HCl浸漬によるFe膜除去およびSiH4照射後におけるAFM表面形状像では、RMSラフネスに顕著な変化は認められないが、HCl浸漬後の試料においてXPS分析した結果、Fe膜蒸着直後と比較してFe-Oに起因するピーク強度が減少し、Fe-Siに起因する信号強度が増大していることから、Fe蒸着時にSi薄膜表面のシリサイド化が進行し、HCl浸漬により未反応のFeおよびFe酸化膜がエッチング除去できていることが分かった。また、SiH4照射直後の試料におけるXPS角度分解分析の結果、表面側においてSi-SiまたはSi-Feのピークシフトが認められることから、シリサイド層表面にSi層が堆積していることが分かった。同様のプロセスを予め形成したSi量子ドットにおいて行った結果、各工程後の表面形状像に大きな変化は認められないものの、SiH4照射後の試料では、室温において明瞭なPL信号が認められた。これらの結果は、β-FeSi2コアが極薄Siでキャップされた構造になっていることを示唆している。
令和5年度が最終年度であるため、記入しない。
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