研究課題
基盤研究(A)
独自の複合電子顕微分光法による多次元分光イメージングを発展させ、現実の材料の格子欠陥の構造及び基礎物性をナノメートルスケールで計測するロバストな手法を確立・応用することを目的とした研究提案である。試料方位に依存せず、かつ、多くの標本点からの情報を総合することにより、定量性の高い計測法の構築が計画されている。
研究計画および研究内容も、これまでの国内外での研究や小さく絞った高エネルギー電子を用いた観察との対比として具体的に示されており、本分野で実績のある応募者によって研究が大きく推進することが期待される。得られる研究成果は、電子顕微鏡技術さらには材料研究の日本のポテンシャル向上に貢献する。