| 研究課題/領域番号 |
21H04687
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| 研究種目 |
基盤研究(A)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 審査区分 |
中区分35:高分子、有機材料およびその関連分野
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| 研究機関 | 東京大学 |
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研究代表者 |
植村 卓史 東京大学, 大学院工学系研究科(工学部), 教授 (50346079)
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| 研究分担者 |
細野 暢彦 東京大学, 大学院工学系研究科(工学部), 准教授 (00612160)
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| 研究期間 (年度) |
2021-04-05 – 2025-03-31
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| 研究の概要 |
細孔構造を持つ多孔性金属錯体（MOF）を利用した合成高分子の精密認識手法、精密分離手段の開発に関する興味深い研究課題である。MOFを用いることで、高分子の末端基のわずかな立体的因子、極性、かさ高さの違いによる高効率な分離が可能なことを既に立証しつつあり、本技術の確立を目指すものである。
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| 学術的意義、期待される成果 |
高分子鎖の末端修飾の有無、鎖状高分子と環状高分子、吸着性能の大きく異なるモノマーの共重合体の分離などへの応用に展開できる。また、高分子鎖のわずかな分子量の差を見極めることができれば、単分散高分子を簡単に得ることができる方法としても期待できる。学術的・実用的な波及効果も極めて大きいと考えられる。
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