ZrSiS系トポロジカル半金属 R(Sb, Bi)Te (R:ランタノイド元素)に対して,その価数制御を制御する方法を開発・適用した.RSbTe系はノーダルラインの位置するエネルギー準位より上にフェルミ準位が有る場合,既報と同様に電荷密度波が形成されること,下に有る場合,正四角格子に凧形の歪み入った2倍周期構造を取ること,が見出された.スピン軌道相互作用が電子系にもたらす影響を明らかにする目的で作成されたRBiTe系は,組成域によって電荷密度波が形成されることを明らかにした.電荷密度波の波数の変化を追うことにより,本研究で開発した試料作製法は,精密な価数制御が出来ることが判明した.
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