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ライトコマンドを生じうる物理メカニズムとして，(i) 熱弾性効果， (ii) 熱ピストン効果， (iii) 光電効果を洗い出した．その上で，各項目の寄与を同定するための実験を設計し，市販の MEMS マイクロホン 8 種を評価した．第一に，3種類の効果のうち，いずれでもライトコマンド脆弱性を生じうることが分かった．第二に，マイクロホンごとに，いずれの効果が優位になるかに大きな違いがあった．すなわち，マイクロホンの内部構造や製造方法によって, 主要因が容易に変わりうることが分かった．以上の結果を元に，ライトコマンド対策への提言と，別のセンサに攻撃が拡大する可能性について考察した．
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