| 研究課題/領域番号 |
21K14539
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| 研究機関 | 分子科学研究所 |
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研究代表者 |
山本 航平 分子科学研究所, 物質分子科学研究領域, 助教 (30844823)
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| 研究期間 (年度) |
2021-04-01 – 2024-03-31
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| キーワード | 磁性体薄膜 |
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| 研究実績の概要 |
深さ方向に複雑に構成された磁性体薄膜/多層膜は層間の相互作用に起因して多彩な磁性現象を示す。さらに磁性体の応用先として重要な記録媒体などにおいても多層膜構造を利用して有用な特性が実現されている。このような磁性体多層膜の磁性分布の深さ方向の直接観測による、薄膜中おける磁気構造の発現機構を解明するため、軟X線領域におけるXMCDを利用した反射率XMCD法による測定装置を分子研UVSOR BL4Bに設置し、テスト試料に対して実験を行った。
測定セットアップは2軸の反射率計となっており、それと独立して動く永久磁石による磁場印可機構が備わっており、試料に対して面内、面直方向の磁場をかけることができる。Ｘ線の検出はフォトダイオードによる。磁場は0.35T程度であり、測定は室温で行った。試料の磁性層はCoFeBであり、キャップ層、下地層などによる振動構造が得られたとともに、XMCDに対応する差分であり、シミュレーションによる結果との一致が見られた。Co L吸収端にわたって同様の測定を行っており、XAS/XMCDスペクトル情報と反射率による構造情報との複合的な解析を行っている。
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| 現在までの達成度 (区分) |
現在までの達成度 (区分)
3: やや遅れている
理由
交付時期が年度後半になったため、検出器等の年度内の購入を見送ったが、所属研究グループの保有している器具などを組み合わせて予備的な測定には着手できていることから進捗状況を判断した。この測定によりフィージビリティを確認することができたとともに、得られたデータから解析法などの検討を進めている。
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| 今後の研究の推進方策 |
検出器に変更することで検出効率の高めるとともに基板に由来する蛍光成分を分離して測定することで、信号の低い高角領域のデーターを得られるようにする。所属グループの製膜装置との連携した測定を進める。
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| 次年度使用額が生じた理由 |
交付申請留保のため、研究開始時期が3月1日となったことから、納期などの点で本年度の物品の購入が間に合わなかったため。現在発注しており、今年度前半には納入される見込みである。
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