| 研究課題/領域番号 |
21K18196
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| 研究種目 |
挑戦的研究(開拓)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 審査区分 |
中区分29:応用物理物性およびその関連分野
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| 研究機関 | 一般財団法人ファインセラミックスセンター |
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研究代表者 |
小林 俊介 一般財団法人ファインセラミックスセンター, その他部局等, 主任研究員 (60714623)
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| 研究分担者 |
穴田 智史 一般財団法人ファインセラミックスセンター, その他部局等, 上級研究員 (40772380)
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| 研究期間 (年度) |
2021-07-09 – 2024-03-31
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| 研究の概要 |
本研究は、走査型透過電子顕微鏡(STEM)において、電子顕微鏡の分野で培われた高精度画像取得・解析技術と、情報科学の分野で開発された超解像技術とを融合することにより、原子位置精度を現在の2，000fmから250fmへと大幅に高める超精密原子位置計測技術を開発するものである。開発した手法は、触媒表面の実測に適用して、その実用性を実証する。
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| 学術的意義、期待される成果 |
本研究が挑戦する実空間におけるフェムトメートルオーダー精度の原子位置計測は、従来の電子顕微鏡技術の未踏領域を拓くものであるのみならず、産業上重要な触媒、電池、半導体等に関して、局所構造における原子位置と物性との関係の理解に基づいた新材料創製にもつながるものである。
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