| 研究課題/領域番号 |
22224005
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| 研究種目 |
基盤研究(S)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 研究分野 |
物性Ⅱ
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| 研究機関 | 東京大学 |
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研究代表者 |
藤森 淳 東京大学, 大学院理学系研究科(理学部), 教授 (10209108)
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| 研究分担者 |
組頭 広志 大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構, 物質構造科学研究所, 教授 (00345092)
小出 常晴 大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構, 物質構造科学研究所, 准教授 (10150012)
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| 研究期間 (年度) |
2010-04-01 – 2015-03-31
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| キーワード | 遷移金属酸化物 / 界面 / 超薄膜 / 軟X線磁気円二色性 / 光電子分光 / 線Ｘ線二色性 |
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| 研究成果の概要 |
異種の強相関物質がつくる界面、超格子、超薄膜が新規物性を示す現象が近年注目を集めているが、界面、超薄膜の体積が試料全体に比べ小さいため、通常の物性測定が不可能か必要な精度が得られないことが多い。一方、軟X線放射光を用いた分光測定はナノスケールの検出深さをもつため、上記の試料に適した手法である。本研究では、界面新規電子相の本質である物性の異方性を、放射光X線の偏光、印加磁場方向を自由に変えることのできる分光測定系を開発し、系統的に調べることを目的とした。本装置と薄膜作製その場分光測定装置を併せて、酸化物界面、超格子、超薄膜の金属-絶縁体転移の観測、量子化準位の観測、磁気異方性の検出に成功した。
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| 自由記述の分野 |
数物系科学
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