研究課題
基盤研究(B)
第一原理計算法とEFED 法を用いて、(1) IV 族半導体ナノ構造における誘電率降下の理論計 算による確認、(2) 薄層化の極限で誘電率が抑制された状況のIV 族半導体物性の探求、(3) IV 族半導体誘電率制御のための成長機構の探求、を行った。また発光分光法を用いて、(4) IV 族 半導体ナノ構造中不純物の光電気測定、(5) IV 族半導体ナノ構造の界面制御効果の検討、を行 った。
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