• 研究課題をさがす
  • 研究者をさがす
  • KAKENの使い方
  1. 課題ページに戻る

2012 年度 実績報告書

強相関遷移金属酸化物の酸素欠陥による電子物性変化と電場制御に関する研究

研究課題

研究課題/領域番号 22360280
研究機関独立行政法人産業技術総合研究所

研究代表者

澤 彰仁  独立行政法人産業技術総合研究所, 電子光技術研究部門, 研究グループ長 (10357171)

研究期間 (年度) 2010-04-01 – 2013-03-31
キーワード表面・界面 / 強相関エレクトロニクス / セラミックス
研究概要

本年度は、①強相関酸化物中の酸素欠陥の電界移動と②雛型デバイスによる強相関遷移金属酸化物の輸送特性制御に関して以下のような成果が得られた。
①強相関酸化物中の酸素欠陥の電界移動
酸素欠損の電界移動により発現する抵抗スイッチング現象について、人工的な酸素欠陥導入が与える効果を検証するため、イオンミリングにより人工的に酸素欠陥を導入したNb-SrTiO3と、導入していないNb-SrTiO3を用いた素子を作製し、抵抗スイッチング特性を比較するとともに、TEM-EELSにより界面構造及びTiの価数を評価した。酸素欠陥を導入することにより、10倍以上のスイッチング速度の向上が見られた。また、酸素欠陥を導入した素子では、界面から離れるにしたがってTi価数の明確な変化が見られた。この結果から、人工的な欠陥導入は酸素欠陥の移動を促進し、抵抗スイッチング特性の向上に有効であることが示された。
②雛型デバイスによる強相関遷移金属酸化物の輸送特性制御
強相関酸化物(Nd,Sm)NiO3をチャンネル用いた電気二重層トランジスタで観測される約5桁にわたる大きな抵抗変化について、その動作機構として電界による酸素欠陥移動の可能性を検証するため、in-situ放射光X線実験によりゲート電場印加下における(Nd,Sm)NiO3の結晶構造を測定した。測定の結果、電圧印加による格子定数および結晶構造の明確な変化は観測されず、巨大な抵抗変化の起源は単純な酸化還元反応ではなく電子的機構が関与している可能性を見出した。強誘電体を用いた2端子型抵抗スイッチング素子については、金属電極と強誘電体の界面に薄い強相関絶縁体を挿入した界面エンジニアリング素子を開発した。素子特性の精密測定とバンド構造の解析から、界面に挿入した強相関絶縁体が遮蔽電荷と分極電荷を分離することが、抵抗スイッチングの発現に重要な役割を演じていることを見出した。

現在までの達成度 (区分)
理由

24年度が最終年度であるため、記入しない。

今後の研究の推進方策

24年度が最終年度であるため、記入しない。

  • 研究成果

    (17件)

すべて 2013 2012 その他

すべて 雑誌論文 (3件) (うち査読あり 3件) 学会発表 (14件) (うち招待講演 5件)

  • [雑誌論文] Electrolyte-Gated SmCoO3 Thin-Film Transistors Exhibiting Thickness-Dependent Large Switching Ratio at Room Temperature2013

    • 著者名/発表者名
      P.-H. Xiang, S. Asanuma, H. Yamada, H. Sato, I. H. Inoue, H. Akoh, A. Sawa, M. Kawasaki, and Y. Iwasa
    • 雑誌名

      Advanced Materials

      巻: 25 ページ: 2158-2161

    • DOI

      10.1002/adma.201204505

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Phase diagrams of strained Ca1-xCexMnO3 films2012

    • 著者名/発表者名
      P.-H. Xiang, H. Yamada, H. Akoh, and A. Sawa
    • 雑誌名

      Journal Applied Physics

      巻: 112 ページ: 113703-1-5

    • DOI

      10.1063/1.4768198

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Resistive Switching Memory Based on Ferroelectric Polarization Reversal at Schottky-like BiFeO3 Interfaces2012

    • 著者名/発表者名
      A. Tsurumaki-Fukuchi, H. Yamada, and A. Sawa
    • 雑誌名

      Materials Research Society Symposium Proceedings

      巻: 1430 ページ: 1-6

    • DOI

      10.1557/opl.2012.933

    • 査読あり
  • [学会発表] Ferroelectric Resistive Switching at Schottky-like BiFeO3 interfaces

    • 著者名/発表者名
      澤彰仁
    • 学会等名
      Nature Conference “Frontiers in Electronic Materials”
    • 発表場所
      Aachen, Germany
    • 招待講演
  • [学会発表] Mott FET

    • 著者名/発表者名
      澤彰仁
    • 学会等名
      ITRS workshop on Emerging Research Logic Devices
    • 発表場所
      Bordeaux, France
    • 招待講演
  • [学会発表] Resistance Change Memory consisting of ferroelectric oxides

    • 著者名/発表者名
      澤彰仁
    • 学会等名
      9th International Symposium on Advanced Gate Stack Technology
    • 発表場所
      Saratoga Spring, NY, USA
    • 招待講演
  • [学会発表] Resistive switching memory consisting of ferroelectric oxides

    • 著者名/発表者名
      澤彰仁
    • 学会等名
      New Non-Volatile Memory Workshop 2012
    • 発表場所
      Hsinchu, Taiwan
    • 招待講演
  • [学会発表] Resistive Switching Effect in Conductive Ferroelectric Oxides

    • 著者名/発表者名
      澤彰仁
    • 学会等名
      2012 Electric Pulse Induced Changes in Oxides
    • 発表場所
      Buenos Aires, Argentina
    • 招待講演
  • [学会発表] Resistive Switching Memory Based on Ferroelectric Polarization Reversal at Schottky-like BiFeO3 Interfaces

    • 著者名/発表者名
      福地厚、山田浩之、澤彰仁
    • 学会等名
      2012 Materials Research Society Spring Meeting
    • 発表場所
      San Francisco, USA
  • [学会発表] BiFeO3薄膜を用いた強誘電抵抗変化メモリの動作特性

    • 著者名/発表者名
      福地厚、山田浩之、澤彰仁
    • 学会等名
      第73回応用物理学会学術講演会
    • 発表場所
      愛媛大学
  • [学会発表] 電気二重層ゲートによる強相関酸化物の電子相制御

    • 著者名/発表者名
      浅沼 周太郎、Xiang Ping-Hua、山田 浩之、佐藤弘、井上公、赤穗博司、澤彰仁、上野和紀、川崎雅司、岩佐義宏
    • 学会等名
      第73回応用物理学会学術講演会
    • 発表場所
      愛媛大学
  • [学会発表] (Nd,Sm)NiO3電気二重層トランジスタの動作特性

    • 著者名/発表者名
      浅沼 周太郎、Xiang Ping-Hua、山田 浩之、佐藤弘、井上公、赤穗博司、澤彰仁、上野和紀、川崎雅司、岩佐義宏
    • 学会等名
      第73回応用物理学会学術講演会
    • 発表場所
      愛媛大学
  • [学会発表] Electric-field control of Mott transition in electrolyte-gated (Nd,Sm)NiO3 thin film

    • 著者名/発表者名
      浅沼 周太郎、Xiang Ping-Hua、山田 浩之、佐藤弘、井上公、赤穗博司、澤彰仁、上野和紀、川崎雅司、岩佐義宏
    • 学会等名
      2012 International Conference on Solid State Devices and Materials
    • 発表場所
      Kyoto International Conference Center, Kyoto
  • [学会発表] Impacts of changing in interfacial band structures on ferroelectric resistive switching effect at Schottky-like BiFeO3 interfaces

    • 著者名/発表者名
      福地厚、山田浩之、澤彰仁
    • 学会等名
      The 19th Workshop on Oxide Electronics
    • 発表場所
      Palace het Loo, Apeldoorn, the Netherlands
  • [学会発表] Large and hysteretic resistance change in electrolyte-gated (Nd,Sm)NiO3 thin film

    • 著者名/発表者名
      浅沼 周太郎、Xiang Ping-Hua、山田 浩之、佐藤弘、井上公、赤穗博司、澤彰仁、中尾裕則、山崎裕一、村上洋一、上野和紀、川崎雅司、岩佐義宏
    • 学会等名
      The 19th Workshop on Oxide Electronics
    • 発表場所
      Palace het Loo, Apeldoorn, the Netherlands
  • [学会発表] BiFeO3強誘電抵抗変化メモリにおける界面電子構造に基づいた動作特性の制御

    • 著者名/発表者名
      福地厚、山田浩之、澤彰仁
    • 学会等名
      第60回応用物理学会春季学術講演会
    • 発表場所
      神奈川工科大学
  • [学会発表] HfO2ゲート酸化膜を用いた強相関酸化物(Nd,Sm)NiO3の電子相制御

    • 著者名/発表者名
      浅沼 周太郎、島久、山田 浩之、井上公、赤穗博司、秋永広幸、澤彰仁
    • 学会等名
      第60回応用物理学会春季学術講演会
    • 発表場所
      神奈川工科大学

URL: 

公開日: 2014-07-24  

サービス概要 検索マニュアル よくある質問 お知らせ 利用規程 科研費による研究の帰属

Powered by NII kakenhi