| 研究概要 |
低アスペクト比RFP装置RELAXにおいて見出されたヘリカル平衡RFP配位(立体磁気軸をもつRPP配位)への遷移現象のダイナミクスを解明するために,軟X線(SXR)計測器を開発した.従来可視光領域で確認された(準)単一ヘリカル構造がSXR領域でも確認され,RELAXのヘリカル配位で電子密度,電子温度が周辺よりも高いヘリカルコアが存在することが確認された.低アスペクト比RFPでは低電流((100kA)で外部磁場よる制御ななくてもヘリカル配位が得られることが示された.さらに,低アスペクト比に特有の運転領域の探索により,従来よりも磁場反転が深い領域で磁場揺動レベルが低下することを見出した.これは新しい閉じ込め改善領域の開拓に結び付く可能性をもつ.磁力線追跡コード(ORBIT)を用いた解析によると,RELAXのヘリカル配位では,RFX-modで発見された単一ヘリカル軸配位(Single Helical Axis,SHAx)と同様に立体磁気軸配位となり,一方深い反転領域では中心付近に軸対称磁気面領域が形成されて,いずれの場合にも磁気カオスの修復が起こっていることが示唆された.計測器の開発に関しては,コア領域の閉じ込め特性を明らかにするために電子温度測定用トムソン散乱測定装置を製作して動作確認を行った.RFPプラズマの性能改善のために抵抗性壁不安定性のフィードバック制御系を整備した.これらを駆使して平成23年度はこれらを駆使して高性能RFPプラズマの実現を目指す
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