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2012 年度 実績報告書

システムLSIにおけるクロック信号線上の故障に対する検査法・診断法の開発

研究課題

研究課題/領域番号 22500048
研究機関愛媛大学

研究代表者

樋上 喜信  愛媛大学, 理工学研究科, 准教授 (40304654)

研究分担者 高橋 寛  愛媛大学, 理工学研究科, 教授 (80226878)
研究期間 (年度) 2010-04-01 – 2013-03-31
キーワードLSIの故障診断
研究概要

H24年度は,VLSIにおけるクロック信号線と組合せ回路部のゲート信号線とのブリッジ故障を対象にした故障診断法を開発した.これまでのVLSIに対する故障診断に関する研究は,ほとんどが組合せ回路部内の信号線またはゲート内部の故障を対象にしており,クロック信号線とゲート信号線間のブリッジ故障を対象にした研究は,報告されていない.本研究では,クロック信号線とゲート信号線間にブリッジ故障が生じた場合に,故障位置を指摘する手法を開発した.ブリッジ故障発生時の故障動作としては,従来から一般的である,ANDブリッジ故障とORブリッジ故障を考慮した.また,テスト手法としては,スキャンチェーン構造を利用しフリップフロップに論理値を印加し,観測するフラッシュテストを仮定した.研究においてはまず,ブリッジ故障による影響について,信号伝搬遅延を考慮した解析を行った.その結果,ANDブリッジ故障・ORブリッジ故障それぞれについて,どのような条件で誤った値がフリップフロップに取り込まれるかを明らかにした.さらに,故障シミュレーションを行い,候補故障箇所を絞り込む手法を考案した.開発した手法は,C言語により実装し,ベンチマーク回路に適用した実験を行った.実験の結果,多くの回路において,候補故障個所を1か所に絞り込むことができた.今後の課題としては,一部の回路で多くの候補故障が残った場合があり,さらに絞り込むために手法を改善することが挙げられる.

現在までの達成度 (区分)
理由

24年度が最終年度であるため、記入しない。

今後の研究の推進方策

24年度が最終年度であるため、記入しない。

  • 研究成果

    (3件)

すべて 2012

すべて 雑誌論文 (3件) (うち査読あり 3件)

  • [雑誌論文] Generation of Diagnostic Tests for Transition Faults Using a Stuck-at ATPG Tool2012

    • 著者名/発表者名
      Yoshinobu Higami
    • 雑誌名

      IEICE Trans. on Information and Systems

      巻: E95-D ページ: 1093-1100

    • DOI

      10.1587

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Diagnosis of Bridging Faults at Gated Clock Lines2012

    • 著者名/発表者名
      Yoshinobu Higami
    • 雑誌名

      Proc. Int. Technical Conf. on Circuits/Systems, Computers and Communications

      巻: - ページ: -

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Diagnosis for Bridging Faults on Clock Lines2012

    • 著者名/発表者名
      Yoshinobu Higami
    • 雑誌名

      Proc. Pacific Rim Int. Symposium on Dependable Computing

      巻: - ページ: 135-144

    • 査読あり

URL: 

公開日: 2014-07-24  

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