システム LSI におけるクロック信号線上の故障に対する検査法β診断法の開発

2012 年度 研究成果報告書

• 研究課題/領域番号: 22500048
• 研究種目: 基盤研究(C)
• 配分区分: 補助金
• 応募区分: 一般
• 研究分野: 計算機システム・ネットワーク
• 研究機関: 愛媛大学
• 研究代表者: 樋上 喜信 愛媛大学, 大学院・理工学研究科, 准教授 (40304654)
• 研究分担者: 高橋 寛 愛媛大学, 大学院・理工学研究科, 教授 (80226878)
• 研究期間 (年度): 2010 – 2012
• キーワード: ディペンダブルコンピューティング / 論理回路の故障検査

研究概要

本研究では,システム LSI に対する故障検査法および故障診断法を開発した.対象とする故障はクロック信号線上の遅延故障とブリッジ故障であり,故障の存在する LSI において,故障個所を指摘する手法を開発した.開発した手法は,シミュレーションに基づく手法であり,その有効性についてはベンチマークとなる回路を用いたシミュレーション実験を行い,確認した.

研究成果

• [雑誌論文] Generation of Diagnostic Tests for Transition Faults Using a Stuck-at ATPG Tool (2012)
  • 著者名/発表者名: Y. Higami, H. Takahashi, S. Kobayashi and K. Saluja
  • 雑誌名: IEICE Trans. on Inf. & Systems 巻: vol. E95-D ページ: 1093-1100
  • DOI: DOI:10.1587
• [雑誌論文] Diagnosis of Bridging Faults at Gated Clock Lines (2012)
  • 著者名/発表者名: Y. Higami, H. Takahashi, S. Kobayashi and K. Saluja
  • 雑誌名: Proc. Int. Technical Conf. on Circuits/Systems, Computers and Communications
  • DOI: DOI:10.1109 /PRDC. 2012.15
• [雑誌論文] Diagnosis for Bridging Faults on Clock Lines (2012)
  • 著者名/発表者名: Y. Higami, H. Takahashi, S. Kobayashi and K. Saluja
  • 雑誌名: Proc. Pacific Rim Int. Symposium on Dependable Computing
  • DOI: DOI:10.1109/PRDC.2012.15
• [雑誌論文] Enhancement of Clock Delay Faults Testing (2011)
  • 著者名/発表者名: Y. Higami, H. Takahashi, S. Kobayashi and K. Saluja
  • 雑誌名: Proc. European Test Symposium
  • DOI: DOI:10.1109/ETS.2011.27
• [雑誌論文] On Detecting Transition Faults in the Presence of Clock Delay Faults (2011)
  • 著者名/発表者名: Y. Higami, H. Takahashi, S. Kobayashi and K. Saluja
  • 雑誌名: Proc. Asian Test Symposium ページ: 1-6
  • DOI: DOI:10.1109/ATS.2011.33
• [雑誌論文] Fault Simulation and Test Generation for Clock Delay Faults (2011)
  • 著者名/発表者名: Y. Higami, H. Takahashi, S. Kobayashi and K. Saluja
  • 雑誌名: Proc. Asia and South Pacific Design Automation Conference ページ: 799-805
  • DOI: DOI:10.1109/ASPDAC.2011.5722299
• [学会発表] FTC 研究会 (2010)
  • 著者名/発表者名: 樋上喜信,高橋寛,小林真也,Kewal K. Saluja
  • 学会等名: クロック信号線の遅延故障に対するテスト生成について
  • 年月日: 20100000