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これまでの研究で，直線プリミティブに関しては，高速・高精度な抽出手法の開発とその性能評価を，また，直線よりもより複雑な円や楕円プリミティブに関しては，「中心線特徴」と呼ぶ両プリミティブを効率良く抽出するための新しい特徴の提案を行った。本年度はこれらの研究成果に基づいて，直線プリミティブに関しては，「開発した手法のアナログ計測機器自動検針への利用」を，また，円や楕円プリミティブに関しては，「中心線特徴を用いた両プリミティブの抽出手法の開発」を中心に研究を行った。得られた研究成果を以下に述べる。
１）開発した直線プリミティブ抽出手法のアナログ計測機器自動検針への利用
アナログ計測機器を撮影した画像データからCannyフィルタを用いて求めたエッジ画像に対して，本研究で開発した直線抽出手法を使って針の角度を自動検針する方法を開発した。ここでは，実験で求めた多くの検針結果と現場からの要求仕様を総合して，直線抽出ハフ変換のパラメータ（ρ，θ）の標本化間隔ΔρとΔθをそれぞれ１画素と0.05度に設定すれば，現場からの要求仕様を満たす精度と処理時間でアナログ計測器（共立電気計器社製KEW3441）の自動検針が可能であることを示した。
２）中心線特徴を用いた円や楕円プリミティブの抽出手法の開発
従来のハフ変換では，円の抽出には３次元パラメータ空間内での探索が，楕円の抽出には５次元パラメータ空間内での探索が必要となる。このため，実用時間内での処理は困難である。先に提案した「中心線特徴」は，これらを１次元および２次元パラメータ空間内での探索に置き換えるものである。研究では中心線特徴を用いた円や楕円プリミティブの抽出手法を開発し，この手法を用いることで両プリミティブを実用時間内に抽出できることを示した。また，「中心線特徴」を得るために必要な「中心点画像」の効率的な作成方法についても検討を行った。
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