研究課題
基盤研究(C)
我々は透過型電子顕微鏡(TEM)でのエネルギー分散型X線分光(EDS)分析の高精度化を目的として、超伝導遷移端型マイクロカロリメータX線検出器を応用したTEM-EDS分析システムを開発してきた。本課題では、本装置を実用的な分析に供するための解析基盤技術の検討を実施するとともに、複雑な組織・組成を持つ金属材料への応用に展開し、偏析や析出などの微小な組成変動を高感度かつ高精度に分析する手法を構築した。
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応用物理
巻: 81-2 ページ: 139-142