ナノ半導体アナログ回路の自己校正・テスト・診断修復技術の研究

2011 年度 実績報告書

• 研究課題/領域番号: 22560319
• 研究機関: 群馬大学
• 研究代表者: 小林 春夫 群馬大学, 大学院・工学研究科, 教授 (20292625)
• キーワード: 集積回路 / ナノCMOS / アナログ / 自己校正 / LSIテスト

研究概要

(1)ナノCMOSシステムLSIでのキーコンポーネントである、タイムデジタイザ回路の高精度化のためにマルチビット構成とその非線形性の自己校正法を考案し、特許出願、学会発表を行った。また、タイムデジタイザ回路のディジタル信号間のタイミングの短時間・高精度テストへの応用を検討した。
(2)連続時間アナログフィルタのディジタル自己調整法を考案し、シミュレーションによる原理確認を行い、学会発表を行った。
(3)パイプラインADCの精度を向上させる自己校正アルゴリズムを考案し、シミュレーションにより有効性を確認し、学会発表を行った。
(4)サイクリックADCの精度を向上させ低消費電力化を実現する自己校正アルゴリズムを考案しシミュレーションにより有効性を確認し、学会発表を行った。
(5)ADCのテスト信号をディジタル信号処理により高線形化する技術を開発し実測で有効性を確認した。
(6)完全ディジタルPLL回路の短時間での自己校正アルゴリズムの実機検証を行った。

現在までの達成度 (区分)

2: おおむね順調に進展している

理由

着実に研究成果がでており、学会発表、論文発表にもつながっている。

今後の研究の推進方策

半導体メモリの回路・システム構成、テスト方法にヒントを得て、アナログ回路にもその考え方が援用する方式を新たに着想したので、その着想の検討も含めて研究を推進していく。

研究成果

• [雑誌論文] Design for Testability That Reduces Linearity Testing Time of SAR ADCs (2011)
  • 著者名/発表者名: T.Ogawa, H.Kobayashi, S.Uemori, Y.Tan, S.Ito, N.Takai T.Yamaguchi, K.Niitsu
  • 雑誌名: IEICE Trans.on Electronics 巻: Vol.E93-C ページ: 1061-1064
  • DOI: 10.1587/transele.E.94.C.1233
  • 査読あり
• [雑誌論文] Background Self-Calibration Algorithm for Pipelined ADC Using Split ADC Scheme (2011)
  • 著者名/発表者名: T.Yagi, K.Usui, T.Matsuura, S.Uemori, Y.Tan, S.Ito, H.Kobayashi
  • 雑誌名: IEICE Trans.on Electronics 巻: Vol.E93-C ページ: 1233-1236
  • DOI: 10.1587/transele.E.94.C.1061
  • 査読あり
• [学会発表] 連続時間アナログフィルタのディジタル自動調整法の一提案 (2012)
  • 著者名/発表者名: 〓光磊、陳昊、高川、張雲鵬、小林春夫、高井伸和、新津葵一
  • 学会等名: 電気学会 電子回路研究会
  • 発表場所: 横須賀
  • 年月日: 2012-03-30
• [学会発表] パイプラインAD変換器の自己校正法 (2012)
  • 著者名/発表者名: 丹陽平、劉羽、小林春夫、小林修、松浦達治、新津葵一
  • 学会等名: 電子情報通信学会第28回シリコンアナログRF研究会
  • 発表場所: 東京
  • 年月日: 2012-03-16
• [学会発表] サイクリックAD変換器の自己校正法の検討 (2012)
  • 著者名/発表者名: 劉羽、丹陽平, 小林春夫、新津葵一
  • 学会等名: 電気学会栃木・群馬支所主催 研究発表会
  • 発表場所: 桐生
  • 年月日: 2012-02-29
• [学会発表] デルタシグマ型タイムデジタイザ・アーキテクチャ (2012)
  • 著者名/発表者名: 上森聡史、石井正道、小林春夫, 土井佑太、松浦達治、新津葵一
  • 学会等名: 電気学会 栃木・群馬支所主催研究発表会
  • 発表場所: 桐生
  • 年月日: 2012-02-29
• [学会発表] ミックストシグナルSOCテスト技術の動向と最近の研究成果 (2012)
  • 著者名/発表者名: 小林春夫
  • 学会等名: 計測展2011,Tokyo 専門カンファレンス-電子計測技術の最前線
  • 発表場所: 東京
  • 年月日: 2012-01-18
• [学会発表] シグマデルタ型タイムデジタイザ回路の検討 (2011)
  • 著者名/発表者名: 上森聡史, 土井佑太, 小林春夫, 小林修、松浦達治、新津葵一
  • 学会等名: 電気学会 電子回路研究会
  • 発表場所: 長崎
  • 年月日: 2011-10-20
• [学会発表] TVチューナ用完全ディジタルPLL回路-システムの観点から (2011)
  • 著者名/発表者名: 湯本哲也, 村上健, 西村繁幸, 田邊朋之, 壇徹, 高橋伸夫, 内藤智洋, 北村真一, 坂田浩司, 小林春夫, 高井伸和, 新津葵一
  • 学会等名: 電気学会 電子回路研究会
  • 発表場所: 長崎
  • 年月日: 2011-10-20
• [学会発表] TVチューナ用完全ディジタルPLL回路-広帯域化の検討 (2011)
  • 著者名/発表者名: 村上健, 湯本哲也, 長谷川賀則, 三田大介, 壇徹, 内藤智洋, 高橋伸夫, 坂田浩司, 北村真一, 小林春夫, 高井伸和, 新津葵一
  • 学会等名: 電気学会 電子回路研究会
  • 発表場所: 長崎
  • 年月日: 2011-10-20
• [学会発表] Low-Distortion Single-Tone and Two-Tone Sinewave Generation Using ΣΔ DAC (2011)
  • 著者名/発表者名: T.Yamada, O.Kobayashi, K.Kato, K.Wakabayashi, H.Kobayashi, T.Matsuura, Y.Yano, T.Gake, K.Niitsu, N.Takai, T.Yamaguchi
  • 学会等名: IEEE International Test Conference
  • 発表場所: Anaheim, CA, USA
  • 年月日: 2011-09-21
• [学会発表] Digitally-Assisted Compensation Technique for Timing Skew in ATE Systems (2011)
  • 著者名/発表者名: K.Asami, T.Tateiwa, T.Kurosawa, H.Miyajima, H.Kobayashi
  • 学会等名: IEEE International Mixed-Signals, Sensors, and Systems Test Workshop
  • 発表場所: Santa Barbara, CA, USA
  • 年月日: 2011-05-16
• [学会発表] Low-Distortion Single-Tone and Two-Tone Sinewave Generation Algorithms Using an Arbitrary Waveform Generator (2011)
  • 著者名/発表者名: K.Wakabayashi, T.Yamada, S.Uemori, O.Kobayashi, K.Kato, H.Kobayashi, K.Nitsu, H.Miyashita, S.Kishigami, K.Rikino, Y.Yano, T.Gake
  • 学会等名: IEEE International Mixed-Signals, Sensors, and Systems Test Workshop
  • 発表場所: Santa Barbara, CA, USA
  • 年月日: 2011-05-16
• [産業財産権] マルチビットのデルタシグマ型タイムデジタイザ回路及びその校正方法 (2011)
  • 発明者名: 上森聡史、石井正道、小林春夫
  • 権利者名: 群馬大学
  • 産業財産権番号: 特許特願2012-031484
  • 出願年月日: 2011-12-16