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2012 年度 実績報告書

ナノ半導体アナログ回路の自己校正・テスト・診断修復技術の研究

研究課題

研究課題/領域番号 22560319
研究機関群馬大学

研究代表者

小林 春夫  群馬大学, 工学(系)研究科(研究院), 教授 (20292625)

研究期間 (年度) 2010-10-20 – 2013-03-31
キーワード集積回路 / ナノCMOS / アナログ / 自己校正 / LSIテスト
研究概要

H24年度の成果は以下の通り。
①ナノCMOS システムLSIでのキーコンポーネントである、タイムデジタイザ回路の高線形化のためのデジタル自己校正法をアルゴリズムを発展させた。(開発アルゴリズムが基本タイムデジタイザ回路だけでなく、確率的バーニア型にも適用できることを検証した。)②ΔΣタイムデジタイザ回路が位相ノイズ測定に適用できることを理論解析・シミュレーションで示した。高価な計測器を用いずに高精度の位相ノイズ測定が可能になる。③ΔΣタイムデジタイザ回路をアナログFPGAで実現し線形性自己校正アルゴリズムを検証した。④動微細CMOS適した通信用AD変換器のテスト用信号(2トーン信号、I/Q信号)発生アルゴリズムを開発した。開発した手法はデジタル技術を多用するので、微細CMOSでの実現に適している。また、そこで要求されるアナログフィルタの性能を明確にした。⑤サイクリックADCの精度を向上させる自己校正アルゴリズムを考案し、シミュレーションにより有効性を確認した。⑥サイクリックADCの後段に連続時間ΔΣ変調器を設けて高精度化する構成を考案し有効性を検証した。 ⑦微細CMOSチップ内の微小信号を測定できるオンチップ回路を考案しシミュレーションで動作を確認した。⑧インターリーブADCのタイミングスキューをデジタル的に検出・補正する方式を考案しシミュレーションで効果を確認した。⑨高周波波形計測のためのサンプリング回路の非理想要因の理論解析を行い、いくつかの知見を得た。
上記の結果はすべて学会発表を行った。

現在までの達成度 (区分)
理由

24年度が最終年度であるため、記入しない。

今後の研究の推進方策

24年度が最終年度であるため、記入しない。

  • 研究成果

    (25件)

すべて 2013 2012

すべて 雑誌論文 (2件) (うち査読あり 2件) 学会発表 (23件) (うち招待講演 1件)

  • [雑誌論文] Two-Tone Signal Generation for ADC Testing2013

    • 著者名/発表者名
      Keisuke Kato
    • 雑誌名

      IEICE Trans. on Electronics

      巻: vol.E96-C ページ: not decided

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Low-Distortion Sinewave Generation Method Using Arbitrary Waveform Generator2012

    • 著者名/発表者名
      Kazuyuki Wakabayashi
    • 雑誌名

      Journal of Electronic Testing : Theory and Applications

      巻: 28 ページ: 641-651

    • DOI

      DOI 10.1007/s10836-012-5293-4

    • 査読あり
  • [学会発表] AD/DA変換器のディジタル自己校正・補正技術2013

    • 著者名/発表者名
      小林春夫
    • 学会等名
      電子情報通信学会 機能集積情報システム研究会
    • 発表場所
      群馬県桐生市
    • 年月日
      20130705-20130705
    • 招待講演
  • [学会発表] コンパレータ遅延を利用したアナログテスト容易化回路2013

    • 著者名/発表者名
      須釜裕太
    • 学会等名
      電気学会 電子回路研究会
    • 発表場所
      東京
    • 年月日
      20130307-20130308
  • [学会発表] 確率的時間ディジタイザ回路の自己校正技術2013

    • 著者名/発表者名
      土井佑太
    • 学会等名
      電気学会 電子回路研究会
    • 発表場所
      東京
    • 年月日
      20130307-20130308
  • [学会発表] インターリーブADCでのタイミングスキューのディジタル手法による検出・補正技術2013

    • 著者名/発表者名
      易茹
    • 学会等名
      電気学会 電子回路研究会
    • 発表場所
      東京
    • 年月日
      20130307-20130308
  • [学会発表] サンプリング回路の解析2013

    • 著者名/発表者名
      新井美保
    • 学会等名
      電気学会 電子回路研究会
    • 発表場所
      東京
    • 年月日
      20130307-20130308
  • [学会発表] シグマデルタTDCを用いた位相ノイズ測定手法 (1) --システムレベ ル検討-2013

    • 著者名/発表者名
      大澤優介
    • 学会等名
      第3回電気学会東京支部栃木・群馬支所合同研究発表会
    • 発表場所
      宇都宮
    • 年月日
      20130228-20130301
  • [学会発表] シグマデルタTDCを用いた位相ノイズ測定手法 (2) -回路レベル検討-2013

    • 著者名/発表者名
      平林大樹
    • 学会等名
      第3回電気学会東京支部栃木・群馬支所合同研究発表会
    • 発表場所
      宇都宮
    • 年月日
      20130228-20130301
  • [学会発表] 高精度・低消費電力サイクリックADCの自己校正法の検討2013

    • 著者名/発表者名
      劉 羽
    • 学会等名
      第3回電気学会東京支部栃木・群馬支所合同研究発表会
    • 発表場所
      宇都宮
    • 年月日
      20130228-20130301
  • [学会発表] ノイズシェーピング サイクリックADCの検討2013

    • 著者名/発表者名
      新井薫子
    • 学会等名
      第3回電気学会東京支部栃木・群馬支所合同研究発表会
    • 発表場所
      宇都宮
    • 年月日
      20130228-20130301
  • [学会発表] 通信用ICテスト用I,Q信号発生のための複素マルチバンドパスΔΣDA変調器の検討(1)2013

    • 著者名/発表者名
      シャイフル・ニザム・ビン・モーヤ
    • 学会等名
      第3回電気学会東京支部栃木・群馬支所合同研究発表会
    • 発表場所
      宇都宮
    • 年月日
      20130228-20130301
  • [学会発表] 通信用ICテスト用I,Q信号発生のための複素マルチバンドパスΔΣDA変調器の検討(2)2013

    • 著者名/発表者名
      村上正紘
    • 学会等名
      第3回電気学会東京支部栃木・群馬支所合同研究発表会
    • 発表場所
      宇都宮
    • 年月日
      20130228-20130301
  • [学会発表] DA変換器のVCOを用いた自己校正技術の検討2013

    • 著者名/発表者名
      荒川雄太
    • 学会等名
      第3回電気学会東京支部栃木・群馬支所合同研究発表会
    • 発表場所
      宇都宮
    • 年月日
      20130228-20130301
  • [学会発表] 微細化された MOS トランジスタの NBTI 劣化による信頼性問題と NBTI 劣化改善の検討2013

    • 著者名/発表者名
      ビスワス・スミット・クマール
    • 学会等名
      第3回電気学会東京支部栃木・群馬支所合同研究発表会
    • 発表場所
      宇都宮
    • 年月日
      20130228-20130228
  • [学会発表] Two-Tone Signal Generation for Communication Application ADC Testing2012

    • 著者名/発表者名
      Keisuke Kato
    • 学会等名
      IEEE Asian Test Symposium
    • 発表場所
      Niigata, Japan
    • 年月日
      20121119-20121122
  • [学会発表] ディジタル信号タイミング試験用BOSTの検討2012

    • 著者名/発表者名
      平林 大樹
    • 学会等名
      電気学会 電子回路研究会
    • 発表場所
      熊本
    • 年月日
      20121004-20121005
  • [学会発表] 任意波形発生器を用いた低歪み信号発生技術でのアナログフィルタ要求性能2012

    • 著者名/発表者名
      安部 文隆
    • 学会等名
      電気学会 電子回路研究会
    • 発表場所
      熊本
    • 年月日
      20121004-20121005
  • [学会発表] 任意波形発生器を用いたノイズシェーピング技術2012

    • 著者名/発表者名
      村上 正紘
    • 学会等名
      電気学会 電子回路研究会
    • 発表場所
      熊本
    • 年月日
      20121004-20121005
  • [学会発表] Low-Cost High-Quality Signal Generation for ADC Testing2012

    • 著者名/発表者名
      Haruo Kobayashi
    • 学会等名
      IEEE International Test Conference
    • 発表場所
      Anaheim, CA, USA
    • 年月日
      20120904-20120908
  • [学会発表] Two-Tone Signal Generation for Testing of Communication Application Devices2012

    • 著者名/発表者名
      Keisuke Kato
    • 学会等名
      第25回 回路とシステムワークショップ
    • 発表場所
      淡路島
    • 年月日
      20120731-20120801
  • [学会発表] 増幅器の出力遅延時間を利用した微小信号電位差・電流差検出回路2012

    • 著者名/発表者名
      須釜裕太
    • 学会等名
      第67回FTC研究会
    • 発表場所
      滋賀県大津市
    • 年月日
      20120712-20120714
  • [学会発表] Multi-bit Sigma-Delta TDC Architecture with Self-Calibration2012

    • 著者名/発表者名
      S. Uemori, M. Ishii, H. Kobayashi, Y. Doi, Os. Kobayashi, T. Matsuura, K. Niitsu, Y. Arakawa, D. Hirabayashi, Y. Yano, T. Gake, N. Takai, T. Yamaguchi
    • 学会等名
      IEEE Asia Pacific Conference on Circuits and Systems
    • 発表場所
      Kaohsiung, Taiwan
    • 年月日
      2012-12-05
  • [学会発表] Low-IMD Two-Tone Signal Generation for ADC Testing2012

    • 著者名/発表者名
      K. Kato, F. Abe, K. Wakabayashi, T. Yamada, H. Kobayashi, O. Kobayashi, K. Niitsu
    • 学会等名
      IEEE International Mixed-Signals, Sensors, and Systems Test Workshop
    • 発表場所
      Taipei, Taiwan
    • 年月日
      2012-05-16
  • [学会発表] Multi-bit Sigma-Delta TDC Architecture for Digital Signal Timing Measurement2012

    • 著者名/発表者名
      S. Uemori, M. Ishii, H. Kobayashi, Y. Doi, O. Kobayashi, T. Matsuura, K. Niitsu, F. Abe, D. Hirabayashi
    • 学会等名
      IEEE International Mixed-Signals, Sensors, and Systems Test Workshop
    • 発表場所
      Taipei, Taiwan
    • 年月日
      2012-05-15

URL: 

公開日: 2014-07-24  

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