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2011 年度 実績報告書

III-V族化合物半導体MOSFETの量子補正シミュレーション

研究課題

研究課題/領域番号 22560346
研究機関東京理科大学

研究代表者

藤代 博記  東京理科大学, 基礎工学部, 教授 (60339132)

研究分担者 原 紳介  東京理科大学, 基礎工学部, 助教 (30434038)
キーワードIII-V族化合物半導体 / MOSFET / CMOSロードマップ / バリスティック伝導 / 歪バンド構造 / 量子補正モンテカルロシミュレーション / InGaAs / InP
研究概要

本研究はCM0Sロードマップの更なる延長を目指して,量子補正モンテカルロ(MC)シミュレーションにより(1)ドレイン電流の増加,(2)リーク電流の低減(3)チャネル制御性の向上,(4)特性ばらつきの抑制の観点から,ナローおよびワイドバンドギャップIII-V族化合物半導体のロジックデバイスへの適合性を理論的に検討し,ポストSiデバイスとして真に有望なチャネル材料および構造を明らかにすることを目的とする。初年度は,代表的なIII-V族化合物半導体でありデバイスの試作も行われているInGaAsについて詳細な検討を行い,プレーナ型MOSFET構造に適用した場合の問題点を明らかにすると共に,デバイス内のキャリア輸送モデルを提案した。2年目の平成23年度は有効質量,谷間エネルギー,バンドギャップエネルギー等の異なる種々の材料(InGaAs,GaAs,InP)についての検討を行い,以下の成果を得た。
1.各種チャネル材料の検討
InGaAsは有効質量が小さいために注入速度が大きいが,ドレイン領域からの跳ね返りによりボトルネック速度が減少し,かつゲート容量が小さいために電子濃度が低い。GaAsはΓ-L谷間のエネルギーが小さいためにL谷内の伝導が起こり,かつドレイン領域からの跳ね返りも促進される。InPは有効質量が大きいために注入速度は小さいがドレイン領域からの跳ね返りが起こり難く,逆にゲート容量が大きいために電子濃度が高い。結果として,InPでより大きいドレイン電流が得られることを示した。またそれぞれについてデバイス内のキャリア輸送モデルを提案した。
2.量子補正モンテカルロ(MC)シミュレータの高度化
歪みバンド構造から抽出したバンドパラメータを用いて計算を行う量子補正MCシミュレータを開発し,研究に用いた。しかし歪みバンド構造をそのまま輸送計算に用いるフルバンドMCエンジンは計算時間・精度にまだ問題が見られた。

現在までの達成度 (区分)
現在までの達成度 (区分)

2: おおむね順調に進展している

理由

各種のIII-V族化合物半導体をチャンネル材料に用いたプレーナ型MOSFETの特性を比較・検討し,その優劣を議論すると共に,それぞれについてデバイス内のキャリア輸送モデルを提案した。フルバンドMCエンジンは計算時間・精度にまだ問題があり,本格的な利用には至っていないが,本研究課題を遂行する上では現在の近似的バンドを用いたMCエンジンでも大きな問題はない。

今後の研究の推進方策

最終年度である平成24年度はこれまでのチャネル材料の検討結果を非プレーナ型MOSFET構造に展開し,課題(1),(2),(3)の観点から総合的な検討を行い,どの材料および構造がポストSiMOSFETとして真に有望であるかを明らかにする。課題(4)は材料および構造の選択とは概ね別課題であるため,研究資源を課題(1),(2),(3)に集中させる。量子補正モンテカルロ(MC)シミュレータの高度化は本研究後の展開を見据え継続して行う。

  • 研究成果

    (15件)

すべて 2012 2011 その他

すべて 雑誌論文 (5件) (うち査読あり 4件) 学会発表 (8件) 備考 (2件)

  • [雑誌論文] Comparative Study on Nano-Scale III-V MOSFETs with Various Channel Materials Using Quantum-Corrected Monte Carlo Simulation2012

    • 著者名/発表者名
      T. Homma, K. Hasegawa, H. Watanabe, S.Haraand H. I. Fujishiro
    • 雑誌名

      Physica Status Solidi C

      巻: 9 ページ: 346-349

    • DOI

      DOI:10.1002/pssc.201100275

    • 査読あり
  • [雑誌論文] 量子補正モンテカルロ法による歪みInAs HEMTの解析2011

    • 著者名/発表者名
      佐藤 純, 町田 史晴, 原 紳介, 藤代 博記
    • 雑誌名

      電子情報通信学会技術研究報告

      巻: 111 ページ: 79-84.

  • [雑誌論文] Quantum-Corrected Monte Carlo Simulation of InSb HEMTs Considering Strain Effects2011

    • 著者名/発表者名
      S.Hara, F.Machida, J.Sato, H.I.Fujishiro, A.Endo, Y.Yamashita, I.Watanabe
    • 雑誌名

      Abstracts of 9th Topical Workshop on Heterostructure Microelectronics (TWHM2011)

      ページ: 41-42

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Strain Effects on Performances in InAs HEMTs2011

    • 著者名/発表者名
      F.Machida, H.Nishino, J.Sato, H.Watanabe, S. Hara, H. I. Fujishiro
    • 雑誌名

      Proceedings of 23rd International Conference on Indium Phosphide and Related Materials (IPRM2011)

      ページ: 437-440

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Comparative Study on Nano-Scale III-V MOSFETs with Various Channel Materials Using Quantum-Corrected Monte Carlo Simulation2011

    • 著者名/発表者名
      T.Homma, K.Hasegawa, H. Watanabe, S.Hara, H.I.Fujishiro
    • 雑誌名

      Abstracts of 38th International Symposium on Compound Semiconductors (ISCS2011)

      ページ: 469-470

    • 査読あり
  • [学会発表] InSb HEMTのデバイス特性に及ぼすラフネス散乱の影響2012

    • 著者名/発表者名
      佐藤純, 荒井敦志, 町田史晴, 原紳介, 藤代博記, 遠藤聡, 渡邊一世
    • 学会等名
      2012年春季第59回応用物理学関係連合講演会
    • 発表場所
      早稲田大学
    • 年月日
      2012-03-18
  • [学会発表] Quantum-Corrected Monte Carlo Simulation of Nano-Scale III-V MOSFETs2011

    • 著者名/発表者名
      Hiroki Fujishiro
    • 学会等名
      BIT's 1st Annual World Congress of Nano-S&T
    • 発表場所
      World EXPO Center, Dalian, China
    • 年月日
      20111023-20111027
  • [学会発表] 歪みInSb HEMTのモンテカルロ解析2011

    • 著者名/発表者名
      町田史晴, 佐藤純, 原紳介, 藤代博記, 遠藤聡, 渡邊一世
    • 学会等名
      2011年秋季第72回応用物理学会学術講演会
    • 発表場所
      山形大学
    • 年月日
      20110829-20110902
  • [学会発表] 各種チャネル材料を用いた微細III-V MOSFETの特性比較2011

    • 著者名/発表者名
      長谷川慶, 本間嵩広, 原紳介, 藤代博記
    • 学会等名
      2011年秋季第72回応用物理学会学術講演会
    • 発表場所
      山形大学
    • 年月日
      20110829-20110902
  • [学会発表] Quantum-Corrected Monte Carlo Simulation of InSb HEMTs Considering Strain Effects2011

    • 著者名/発表者名
      S.Hara, F.Machida, J Sato, H.I.Fujishiro, H.Endo, Y.Yamashita, I.Watanabe
    • 学会等名
      9th Topical Workshop on Heterostructure Microelectronics (TWHM2011)
    • 発表場所
      Nagaragawa Convention Center, Gifu, Japan
    • 年月日
      20110828-20110831
  • [学会発表] 量子補正モンテカルロ法による歪みInAs HEMTの解析2011

    • 著者名/発表者名
      佐藤純, 町田史晴, 原紳介, 藤代博記
    • 学会等名
      電子情報通信学会ED研究会
    • 発表場所
      長岡技術科学大学マルチメディアシステムセンター
    • 年月日
      20110729-20110730
  • [学会発表] Strain Effects on Performances in InAs HEMTs2011

    • 著者名/発表者名
      F.Machida, H.Nishino, J.Sato, H.Watanabe, S.Hara, H.I.Fujishiro
    • 学会等名
      23rd International Conference on Indium Phosphide and Related Materials (IPRM2011)
    • 発表場所
      Maritim proArte Hotel, Berlin, Germany
    • 年月日
      20110522-20110526
  • [学会発表] Comparative Study on Nano-Scale III-V MOSFETs witn Various Channel Materials Using Quantum-Corrected Monte Carlo Simulation2011

    • 著者名/発表者名
      T.Homma, K.Hasegawa, H.Watanabe, S.Hara, H.I.Fujishiro
    • 学会等名
      38th International Symposium on Compound Semiconductors (ISCS2011)
    • 発表場所
      Maritim proArte Hotel, Berlin, Geriany
    • 年月日
      20110522-20110526
  • [備考]

    • URL

      http://www.tus.ac.jp/fac_grad/p/index.php?A14247

  • [備考]

    • URL

      http://www.te.noda.tus.ac.jp/pub/labs/fujisiro/index-j.html

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公開日: 2013-06-26  

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