研究課題
基盤研究(C)
ナノ材料作製やバイオ技術などでは、試料の厚さや表面粗さをナノ精度で測定する必要がある。この場合、一般に測定範囲は、数μm以内に限られる。本研究では、光ミリ波と呼ばれる光源、並びに、非線形現象の一種である二光子吸収応答を利用する手法を提案し、数mm以上の広い測定範囲にわたり、ナノ精度計測が可能なことを実験により示した。更に、この技術を発展させ、数10km遠方の光ファイバ反射点を数mの誤差で計測可能なシステムを作製した。
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Proc. SPIE
巻: vo1.7753, no.7753-349
DOI:10.1117/12.885969
http://kenkyu-web.tuat.ac.jp/Profiles/7/0000627/profile.htm