SoC内DA変換器の電流テスト容易化設計法に関する研究

2011 年度 研究成果報告書

• 研究課題/領域番号: 22650009
• 研究種目: 挑戦的萌芽研究
• 配分区分: 補助金
• 研究分野: 計算機システム・ネットワーク
• 研究機関: 徳島大学
• 研究代表者: 橋爪 正樹 徳島大学, 大学院・ソシオテクノサイエンス研究部, 教授 (40164777)
• 研究期間 (年度): 2010 – 2011
• キーワード: SoC / DA変換器 / 電流テスト / 検査容易化設計

研究概要

本研究ではSoC(System-on-Chip)内に作られている,出力にオペアンプ回路を伴うディジタル・アナログ変換器(DA変換器)を検査対象回路とし,その回路に流れる電源電流を測定し検査する電流テスト法とその検査を容易とする「検査容易化設計法」の開発を行った。その結果,従来の機能検査法よりも検査入力数が少なく,また面積オーバーヘッドの小さい検査回路でその回路が検査できることを明らかにした。

研究成果

• [雑誌論文] A Supply Current Testable Register String DAC of Decoder Type (2011)
  • 著者名/発表者名: Masaki Hashizume, Yutaka Hata, Hiroyuki Yotsuyanagi, Yukiya Miura
  • 雑誌名: Proc. of IEEE 11th International Symposium on Communications and Information Technologies ページ: 58-63
  • DOI: DOI:10.1109/ISCIT.2011.6092183
  • 査読あり
• [雑誌論文] Practical Testability of Supply Current Testable DACs of Resistor Type (2011)
  • 著者名/発表者名: Miyamori Yoshihiko, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume
  • 雑誌名: Proc. of 2011 International Technical Conference on Circuits/ Systems, Computers and Communications ページ: 1015-1018
  • 査読あり
• [雑誌論文] A Supply Current Testable DAC of Resistor String Type, Proc. (2011)
  • 著者名/発表者名: Masaki Hashizume, Yutaka Hata, Hiroyuki Yotsuyanagi, Yukiya Miura
  • 雑誌名: RISP International Workshop on Nonlinear Circuit and Signal Processing ページ: 13-16
  • 査読あり
• [学会発表] A Supply Current Testable DAC of Resistor String Type (2012)
  • 著者名/発表者名: Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi, Yukiya Miura
  • 学会等名: Japan-Taiwan Joint Workshop on Advanced VLSI Testing
  • 発表場所: 都久志会館(Fukuoka)
  • 年月日: 2012-05-21
• [学会発表] デコーダ型DA変換器の電流テスト容易化設計 (2011)
  • 著者名/発表者名: 橋爪正樹, 秦豊, 四柳浩之, 三浦幸也
  • 学会等名: 電気関係学会四国支部連合大会
  • 発表場所: 阿南工業高等専門学校(阿南市)
  • 年月日: 2011-09-23
• [学会発表] 抵抗ラダー型DAC内MOS短絡の電流テスト容易化設計 (2011)
  • 著者名/発表者名: 橋爪正樹, 秦豊, 四柳浩之, 三浦幸也
  • 学会等名: 2011年電子情報通信学会総合大会
  • 発表場所: 東京都市大学(東京都世田谷区)
  • 年月日: 2011-03-16