多探針原子間力顕微鏡による超音波探傷検査法の開発

2011 年度 研究成果報告書

• 研究課題/領域番号: 22656013
• 研究種目: 挑戦的萌芽研究
• 配分区分: 補助金
• 研究分野: 薄膜・表面界面物性
• 研究機関: 京都大学
• 研究代表者: 小林 圭 京都大学, 産官学連携本部, 助教 (40335211)
• 研究期間 (年度): 2010 – 2011

研究概要

原子間力顕微鏡をベースとした近接場超音波ホログラフィー(SNFUH)法および超音波AFM(UFM)法によって、ポリマー試料の表面下約1マイクロメートルの深さに存在する金ナノ粒子を可視化した。また、ばね定数が異なるカンチレバーを用いて取得した画像コントラストを比較し、試料系の弾性率によって最適なカンチレバーが異なることを明らかにした。一方、真空中や液中でも動作する2探針AFMを開発し、表面下構造の可視化による超音波ナノスケール探傷法の実現に向けた要素技術を確立した。

研究成果

• [雑誌論文] Development of dual-probe atomic force microscopy system using optical beam deflection sensors with obliquely incident laser beams (2011)
  • 著者名/発表者名: E. Tsunemi, K. Kobayashi, K. Matsushige, and H. Yamada
  • 雑誌名: Rev. Sci. In strum 巻: 82 ページ: 033708
  • DOI: DOI:10.1063/1.3534830
• [学会発表] 原子間力顕微鏡による表面下構造の可視化(3) (2012)
  • 著者名/発表者名: 木村邦子, 小林圭, 松重和美, 山田啓文
  • 学会等名: 第59回応用物理学関係連合講演会
  • 発表場所: 早稲田大学
  • 年月日: 2012-03-17
• [学会発表] 2探針AFMによるジアセチレン薄膜の局所電気特性測定口 (2012)
  • 著者名/発表者名: 広瀬政晴, 常見英加, 小林圭, 山田啓文, 松重和美
  • 学会等名: 第59回応用物理学関係連合講演会
  • 発表場所: 早稲田大学
  • 年月日: 2012-03-17
• [学会発表] 探針AFMによるオリゴチオフェン微結晶のナノ電気特性測定 (2011)
  • 著者名/発表者名: 広瀬政晴, 常見英加, 小林圭, 山田啓文, 松重和美
  • 学会等名: 第72回応用物理学会学術講演会
  • 発表場所: 山形大学
  • 年月日: 2011-09-02
• [学会発表] 原子問力顕微鏡による表面下構造の可視化(3)一表面接触弾性に基づく可視化メカニズムの検討一 (2011)
  • 著者名/発表者名: 木村邦子, 小林圭, 松重和美, 山田啓文
  • 学会等名: 第72回応用物理学会学術講演会
  • 発表場所: 山形大学
  • 年月日: 2011-08-31
• [学会発表] 原子間力顕微鏡による表面下構造の可視化一非線形振動成分の影響一 (2011)
  • 著者名/発表者名: 木村邦子, 小林圭, 松重和美, 山田啓文
  • 学会等名: 第58回応用物理学関係連合講演会
  • 発表場所: 神奈川工業大学
  • 年月日: 2011-03-09