研究課題
若手研究(B)
ステージの運動誤差測定に用いる, 3 点の変位を同時に測定可能な MEMS プローブユニットを提案した.製作過程を探針部,変位検出部と電気回路,外形の3つに分け,各プロセスの加工条件を決定した.さらにデバイス全体を作るプロセスの問題点を洗い出し,プロセスの再構築によりこのデバイスを実現する見通しを得た.また,3 点法による形状・運動誤差測定法のためのデータ処理プログラムを作成し,精度低下の原因となるセンサの配置誤差の影響をシミュレーションにより明らかにした.
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