| 研究課題/領域番号 |
22H00315
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| 研究種目 |
基盤研究(A)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 審査区分 |
中区分32:物理化学、機能物性化学およびその関連分野
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| 研究機関 | 大阪大学 |
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研究代表者 |
夛田 博一 大阪大学, 大学院基礎工学研究科, 教授 (40216974)
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| 研究分担者 |
山田 亮 大阪大学, 大学院基礎工学研究科, 准教授 (20343741)
大戸 達彦 名古屋大学, 工学研究科, 准教授 (90717761)
花村 友喜 大阪大学, 大学院基礎工学研究科, 助教 (21016115)
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| 研究期間 (年度) |
2022-04-01 – 2026-03-31
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| 研究の概要 |
金属電極間に分子を架橋した単一分子接合の電気伝導度、ゼーベック係数、熱伝導度を広い温度範囲で計測する。架橋分子に、構造の規定されたオリゴチオフェン、金属錯体、スピンクロスオーバー錯体を用いて、分子骨格やアンカーの違いが電子伝導度、ゼーベック係数、熱伝導度に与える要因を明らかにする。
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| 学術的意義、期待される成果 |
物理化学分野における単一分子接合の重要性、研究目的の焦点の明確性、試料作製および測定技術の高さ、研究計画の合理性において、卓越したレベルにある。これらの研究の結果、キャリアーと熱の輸送機構に関する学理が構築され、それらの制御を行うための指針の導出と熱電変換素子への応用が期待できる。
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