• 研究課題をさがす
  • 研究者をさがす
  • KAKENの使い方
  1. 課題ページに戻る

2023 年度 実績報告書

HVPE法によるGaNのpn接合周期構造の高速成長とSJダイオードの作製

研究課題

研究課題/領域番号 22K18808
研究機関名古屋大学

研究代表者

本田 善央  名古屋大学, 未来材料・システム研究所, 教授 (60362274)

研究分担者 田中 敦之  名古屋大学, 未来材料・システム研究所, 特任准教授 (30774286)
新田 州吾  名古屋大学, 未来材料・システム研究所, 特任准教授 (80774679)
研究期間 (年度) 2022-06-30 – 2024-03-31
キーワードGaN / HVPE / SJ / パワーデバイス / 高速エピタキシャル成長
研究実績の概要

本研究では、窒化物半導体を用いたスーパージャンクション作製に向けたHVPE法を用いたpn周期構造とプロセス開発を目的としている。HVPEによるpn接合においては急峻性が極めて重要である。そこで、p層を作製するためのMgを含んだ原料を供給するノズルと、n層を作製するためのSiを含んだ原料を供給するノズルを2つ備えたHVPE結晶成長装置を利用した。Siに関しては炉内のメモリが少なく、極めて急峻な切り替えが可能である。一方でMgに関しては、メモリが高く完全にMgの混入を排除することは難しい。そのため、本研究においては急峻性を上げるために、成長基板をそれぞれの原料吹き出し口に交互に移動する手法を用いた。また、ガスはフローチャネルなどで制限せず、開放系の成長炉とすることで、コンタミの影響をより小さくするように設計している。結果として、急峻性の高い界面を得ることが出来たが、いくつか問題がある。1つは解放系のガスフローにしたために、面内の不均一が大きくなったことである。もう1つは急峻性を改善するために、2つのラインを常に供給すると、10^17cm-3程度のMgがn型層成長時にもエピ膜に取り込まれることが明らかとなった。成長中の2ラインの同時供給を止めると、Mgの濃度が安定しないことも明らかとなった。これは、Mgを供給する場合に、Mgが配管内に付着するため、ガスとして供給が遅れるためである。このことから、同時供給は必須であり、Mgのn型層成長中の混入を避けるためのガスフローの制御が重要であるという結論に達した。治具を作製し、ガスフローを制御することで、面内均一性と急峻性を改善することが可能であった。n型層成長中のMg濃度はSIMS検収限界以下であり10^15cm-3以下を実現することが可能であった。npn接合により急峻性を確認し、pn周期構造の作製における基礎的技術の開発に成功した。

  • 研究成果

    (1件)

すべて 2024

すべて 雑誌論文 (1件) (うち国際共著 1件、 査読あり 1件)

  • [雑誌論文] Sn-doped n-type GaN layer with high electron density of 1020 cm?3 grown by halide vapor phase epitaxy2024

    • 著者名/発表者名
      Hamasaki Kansuke、Ohnishi Kazuki、Nitta Shugo、Fujimoto Naoki、Watanabe Hirotaka、Honda Yoshio、Amano Hiroshi
    • 雑誌名

      Journal of Crystal Growth

      巻: 628 ページ: 127529~127529

    • DOI

      10.1016/j.jcrysgro.2023.127529

    • 査読あり / 国際共著

URL: 

公開日: 2024-12-25  

サービス概要 検索マニュアル よくある質問 お知らせ 利用規程 科研費による研究の帰属

Powered by NII kakenhi