酸化ガリウムのポテンシャルを最大限に引き出した電子デバイスを設計・作製するためには、デバイス特性に影響を与える酸化ガリウム中の深い準位に関する深い理解と制御が必須であり、深い準位の定量を精密に行うことは重要である。 本研究ではまず、酸化ガリウムエピタキシャル成長層中の深い準位の定量に向けて、評価用デバイス作製と測定系の構築を目指した。深い準位の定量手法として本研究では容量過渡分光法に着目し、評価用デバイスのβ-酸化ガリウムSchottky障壁ダイオードの試作を行った。理想的な特性を示すデバイスを再現性良く作製することに成功した。測定系も刷新し、効率よくより高精度に測定することが可能となった。
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